光學測量儀產品及廠家
數碼管顯示處理器介紹1）點、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預置和構造2）座標擺正和座標平移，方便擺正工件，減少調整時間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打印）5）多種座標顯示方式，極座標和直角座標、inc座標和abs座標公制和英制6）對光柵尺可進行線性補償或區段線性補償7）z軸可接光柵尺或旋轉編碼器
更新時間:2025-06-10
機械式輪廓測量投影儀參數，線纜絕緣厚度測量投影儀價格，電纜外被測量投影儀市場價格是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器。測量投影儀被廣泛應用于機械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-06-10
愛色麗標準版新款印刷密度儀exact將色彩測量和管理提升到一個新的水平。這是一個可擴展的平臺，可根據需要升級版本，在現場將簡單的密度儀升級到先進的光譜測量儀器。愛色麗標準版新款印刷密度儀，印刷商和包裝轉印商能夠真正理解、控制、管理和交流色彩，避免重印和返工。
更新時間:2025-06-09
通過使用愛色麗標簽印刷紙品禮盒分光密度儀，印刷和包裝企業可以顯著縮短印刷準備時間，提高印刷質量，減少基材和油墨浪費，并獲得高效的印刷運轉。
更新時間:2025-06-09
日本dnp透射燈箱廠家總代理？哪里有日本dnp燈箱和測試卡？購買dnp品牌產品需要找哪里？歡迎您來電聯系蘇州欣美和儀器有限公司；本公司專注顏色管理和攝像頭影像測試方案，提供反射和透射式燈箱以及一切測試卡，如分辨率測試卡，灰度卡，以及提供透射燈箱的燈管配件和電源變壓器等，本公司還專業維修修理日本dnp透射燈箱。
更新時間:2025-06-09
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
更新時間:2025-06-09
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數或折射率的光譜數據分析，這些參數都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據cauchy色散、drude振蕩給出的參數描述和擬合材料。
更新時間:2025-06-09
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統中。
更新時間:2025-06-09
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-06-09
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-06-09
德國sentech激動掃描系統mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。
更新時間:2025-06-09
sensol是sentech光伏產品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產的時間。
更新時間:2025-06-09
senperc pv 是perc電池制造質量控制的創新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監測沉積過程的穩定性。由此，可以優化維護時間間隔。
更新時間:2025-06-09
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。
更新時間:2025-06-09
薄膜反射和透射的在線監測系統 rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監測。軟件接口可用于與主機的數據通信。
更新時間:2025-06-09
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:2025-06-09
德國optosol r1 涂層吸收率發射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發射度，其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-06-09
德optosol-k3 太陽能吸收率發射率檢測儀，k3型發射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-06-09
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發射率快速測量儀，
更新時間:2025-06-09
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-06-09
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區域。
更新時間:2025-06-09
美國 d&s 發射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-06-09
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-06-09
ace3-201+led base (tv-lens款) 二維輝度色度分析儀■ace3-201+led base為使用usb接口的二維輝度色度分析儀。■ace3系列擁有強大的測定功能，可廣泛應用于不同的域。lcd、背光板、導光板、led、透鏡、oled、發光按鍵、廣告燈箱、投影機、光學膜片、道路亮度、標識、室內或戶外照明分布、燈具等的照明分布…
更新時間:2025-06-09
ace3-2000 ccd輝度色度測量儀擁有強大的測定功能，可廣泛應用于不同的域。lcd、背光板、導光板、led、oled、lens、發光按鍵、廣告燈箱、投影機、光學膜片、道路亮度、標識、室內或戶外照明分布、燈具等的照明分布……。
更新時間:2025-06-09
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-06-09
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據astm e408測定熱發射率和空氣質量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學設計，便于在野外或實驗室中使用。
更新時間:2025-06-09
日本rion氣體粒子計數器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時間:2025-06-09
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:2025-06-09
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時間:2025-06-09
日本理音rion液體光學顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-06-09
日本rion粒子計數器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:2025-06-09
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產品、sog 等產品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時間:2025-06-09
日本rion 液體光學顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:2025-06-09
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-06-09
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-06-09
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-06-09
日本rion粒子計數器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-06-09
日本rion粒子計數器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-06-09
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀，自由選擇測試氣氛，優化結構設置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統，設計獨特，性能優異，配備氙燈光源的，高溫測試系統，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內置微型管式爐，更高的測量效率，高數據采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:2025-06-09
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2025-06-09
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-06-09
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-06-09
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統，采用了獨特的測量和分析技術，包括準穩定態光電導(qsspc)測量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應,表面復合效應等缺陷情況。
更新時間:2025-06-09
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- 測定儀 2025/6/10 11:12:54
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- 鹽含量 2025/6/10 11:11:46