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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家
KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S半導(dǎo)體測試探針臺
半導(dǎo)體測試探針臺kup007,emp100c,emp100b,emp50s
更新時間:
2025-06-12
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
SCALA德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
HS1000美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Y.Cougar SMT, Y.Cheetah德國YXLON 高分辨率X射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測器(標(biāo)配)
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Die Pick & Place Systems美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DE35-ST美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
MT Century Curve Tracer美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
3D Nanofinger德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進(jìn)行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
SV-1A日本A&D粒子計數(shù)器(粒度計)
日本a&d粒子計數(shù)器(粒度計)sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達(dá)2,000,000個粒子/ft.
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
F20,F(xiàn)30,F(xiàn)40,F(xiàn)50,F(xiàn)60,F(xiàn)3-XXT美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ECHO-VS, ECHO Pro美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
FTIR德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Tango,MPA,Matrix-I德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學(xué)品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ContoruGT德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ALD德國Sentech 實(shí)時監(jiān)測儀
sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Zip 250美國OGP光學(xué)式坐標(biāo)測量儀
美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ,5:1 accucentric 電動變焦透鏡,在每次放大變倍時自動校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JY—PHa接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀,用于液體對固體的浸潤性,通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀,采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯,工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實(shí)性,獲取最佳的成像效果。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
HypotMAX 7710美Associated 耐壓測試儀
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件,簡化了用戶的操作流程。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
attoCSFM德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實(shí)驗的需求。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
FTPadv臺式薄膜探針反射儀
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv,ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案,它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測量,其精度低于0.3nm,膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作,該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
FTPadv Expert綜合薄膜測量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件,光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析,這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中,使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
MDPinline光伏測量儀器
mdpinline 光伏測量儀器,一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設(shè)計的,它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計,mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
MDPinline ingot光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計的。對于一個面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動,以便測量所有的四個側(cè)面。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
MDPinlinescan在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器,多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計的。對于一個面,以1毫米的分辨率,無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動,以便測量所有的四個側(cè)面。
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2025-06-12
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MDPpro德國Sentech激動掃描系統(tǒng)
德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導(dǎo)率(mdp)同時測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
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2025-06-12
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SenSol自動掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol,可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時間。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
SENperc PV德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此,可以優(yōu)化維護(hù)時間間隔。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
MDPspot德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot,具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng),用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
RTMALD實(shí)時監(jiān)測儀
sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
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2025-06-12
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TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時間:
2025-06-12
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TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
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2025-06-12
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R1德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀,用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度,其基礎(chǔ)是測量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
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2025-06-12
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K3德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀,k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:
2025-06-12
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Absorber Control K1德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀,
更新時間:
2025-06-12
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TriSOL AAA美國OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器,低成本,標(biāo)準(zhǔn)太陽模擬器提供高度準(zhǔn)直,均勻的光,幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置,這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:
2025-06-12
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TSS-52,TSS-100,TSS-156,TSS-208,TSS-300美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:
2025-06-12
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AE1/RD1美國 D&S 發(fā)射率測量儀
美國 d&s 發(fā)射率測量儀 ae1/rd1,是專門針對測量物體的輻射率設(shè)計的,ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量,可以測量平行放置的多個樣品。
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2025-06-12
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AutoWafe Pro.美國SONIX 晶圓檢測設(shè)備
美國sonix 晶圓檢測設(shè)備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設(shè)計的機(jī)型,主要應(yīng)用在bond wafer,mems 內(nèi)部空洞、離層檢測,tsv量測方面。
更新時間:
2025-06-12
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TESA 2000美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000,根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計,便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div>
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2025-06-12
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KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時間:
2025-06-12
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KS-16,KS-16F日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:
2025-06-12
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KS-17B日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
更新時間:
2025-06-12
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KS-19F日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-06-12
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KC-24日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:
2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-41A日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個通道,出廠默認(rèn)):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
更新時間:
2025-06-12
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-18F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍,可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:
2025-06-12
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KS-42A,KS-42AF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-06-12
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