光學測量儀產品及廠家
ns365多波段透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示
更新時間:2025-06-11
ns500中空玻璃測厚儀專用于測量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對于中空玻璃厚度的測量，同時測得各層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時間:2025-06-11
ns550a臺式透光率儀 測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。
更新時間:2025-06-11
ns12高精度透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。
更新時間:2025-06-11
ns10a防爆膜測試儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。
更新時間:2025-06-11
ns13a光學透過率測量儀的測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。
更新時間:2025-06-11
ns550ir油墨透光率儀的測試原理是采用紅外850nm光源，紅外940nm光源和可見550nm光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分數表示。
更新時間:2025-06-11
ns11太陽膜透過率測試儀的測試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測透明物質，感應器分別三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。
更新時間:2025-06-11
ns530a汽車前擋玻璃透光率儀具有的三個獨立測試單元分別為紫外，紅外，和可見光，顯示值為紅外透過率值，紫外透過率值和可見光透過率值。
更新時間:2025-06-11
徠卡3d disto全自動三維建筑測量儀 突出優點:自動整平，輕松設站±3°范圍內自動快速整平手簿控制，實時成圖所有操作通過手簿控制，機載程序豐富強大，且測量的同時手簿上會生成平面圖和立體圖遙控操作，省時省力無線連接讓你擺脫儀器有線的束縛，rm100紅外遙控器讓你雙手在投影過程中擁有更多自由大屏顯示，圖像測量大尺寸
更新時間:2025-06-11
臺面生產力 sprint mvp™是一臺高性能，經濟型的尺寸測量系統。為適應不同測量需求，sprint mvp™為您提供了三個型號。 sprintmvp™是全自動測量系統，帶結構精密的電動xyz軸,光學電動變焦和彩色數碼高清攝像頭。 measure-x®測量軟件是同樣適用于簡單的徒手測量或走全自動化程序。
更新時間:2025-06-11
view metrology software (vms™) 是基于pinnacle+plus的，并提供多種標準測量工具以及內置腳本語言，可以滿足客戶各種功能需求。
更新時間:2025-06-11
micro-vu于1959年在美國加州成立，60余年來micro-vu的影像測量儀在市場受到好的評價，是大市場占有率高的高精度影像自動測量儀
更新時間:2025-06-11
精密型電動角位臺(渦輪蝸桿)：zj120-15
更新時間:2025-06-11
精密型電動角位臺（蝸輪蝸桿）: zj120-10
更新時間:2025-06-11
北京聯英精機精密光學平臺hb02光學平板面包板自水平大理石氣墊精密隔振光學平臺光學測量實驗測試工作平臺
更新時間:2025-06-11
手動平移臺臺面和底座分布標準孔距的安裝孔，方便安裝和組合？膳c其它系列位移臺組成多維調整架。手動位移臺，可為您提供精密的平移調整臺，也可提 供細微到微米，納米的 精細調整？蓱糜诠饫w調 整，光學引擎調整系統，生 物工程，微電子等域
更新時間:2025-06-11
手動旋轉臺臺面可以360°旋轉調整。上下部均有標準孔距的連接孔，方便與其它位移臺連接。手動旋轉臺可根據用戶要 求提供不同臺面直徑，不同 承載功能的臺子，不同的精 度，多樣化的產品供客戶選 擇
更新時間:2025-06-11
手動升降臺巧妙利用各種驅動機構將 水平的移動或轉動轉化為沿 z軸方向的升降調整，規格 多樣，風格不同，更廣泛的 適用于多種域的用戶
更新時間:2025-06-11
手動角位臺可提供旋轉，傾斜調整， 角位臺成對設計，可疊加也 可單獨使用，疊加后可繞焦 點兩維交叉旋轉，不同精度 等可適應不同域用戶使 用
更新時間:2025-06-11
手動傾斜臺可提供將承載的物體傾斜 一個小角度的功能，將原本 不水平的基面調整水平，將 承載物以某一方向或兩個方 向進行微量俯仰和傾斜，不 同規格精度應有盡有
更新時間:2025-06-11
手動整體位移臺將多維調整巧妙有機的集 成于一體，結構變得更加緊 籌，整體性好，連接的環節 減少，體積減小，使用更加 便捷靈巧
更新時間:2025-06-11
手動多維組合臺平動，轉動六個自由度任 意組合，實現用戶各種功能 滿足用戶不同精度要求，適 用于科研，測量，探測，微 加工，微調整等多種科研 域，工業應用域
更新時間:2025-06-11
精密型電動平移臺（交叉滾柱）：zp110-15標配步進電機和rs232接口，我司的zk系列運動控制器可對其實現自動化控制,產品結構小巧輕薄，適合與輕載，低速使用，科學試驗使用,高品質精磨絲杠驅動，小導程，相同細分數可達到高的分辨率,巧妙的消空回螺母結構設計，可使研磨絲杠副的間隙降到小,導軌采用交叉滾柱導軌，運動舒適，有側向調整導軌預緊力和消間隙之功能，
更新時間:2025-06-11
精密型電動平移臺（交叉滾柱）：zp110-30h標配步進電機和rs232接口，我司的zk系列運動控制器可對其實現自動化控制,產品結構小巧輕薄，適合與輕載，低速使用，科學試驗使用,高品質精磨絲杠驅動，小導程，相同細分數可達到高的分辨率,巧妙的消空回螺母結構設計，可使研磨絲杠副的間隙降到小,導軌采用交叉滾柱導軌，運動舒適，有側向調整導軌預緊力和消間隙之功能
更新時間:2025-06-11
精密型電動平移臺（交叉滾柱）：zp110-（15~75）
更新時間:2025-06-11
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-06-11
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-06-11
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，實現了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二管的研發以及材料科學域。
更新時間:2025-06-11
德國optosol r1 涂層吸收率發射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發射度，其基礎是測量來自擴展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2025-06-11
德optosol-k3 太陽能吸收率發射率檢測儀，k3型發射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2025-06-11
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發射率快速測量儀，
更新時間:2025-06-11
trisol aaa美國oai標準太陽能模擬器，低成本，標準太陽模擬器提供高度準直，均勻的光，幾乎任何材料或產品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2025-06-11
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質量過濾器復制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術可以使一個廣泛的接觸區域。
更新時間:2025-06-11
美國 d&s 發射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）？蛇x附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-06-11
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-06-11
美國泰克tek keithley半導體參數分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 業內領先性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-06-11
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯合了原子力顯微鏡的核心部件來實現最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現了最優化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-06-11
韓國ecopia霍爾效應測量系統hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
更新時間:2025-06-11
美國 mmr 霍爾效應測量系統 h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。整套系統主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-06-11
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現場使用。
更新時間:2025-06-11
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-06-11
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