掃描探針顯微鏡（SPM）產品及廠家
德國 neaspec s-snom采用標準鍍金屬afm探頭，用鐳射光進行照射。 經照射的探頭在其頂端形成一個納米級焦點，即行程一個極小光源，再通過它對樣品進行局部掃描。掃描樣品表面時，通過記錄探頭形成的散射光，實現光學成像。 利用原子力顯微鏡的探針針尖當散射源，來增強在針尖前端與樣品間的局限電場。藉由外差干涉、探針調制及光路設計等技術，可同時于多波長下記錄地貌、近場光場強度及相位影像。這項技術能夠用以探測納米材料的光學特性及因納米結構所產生的電磁場變化，s-snom對于您在納米科技的發展將能夠作出重大貢獻。
更新時間:2025-06-06
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