德國 neaspec s-snom采用標(biāo)準(zhǔn)鍍金屬afm探頭,用鐳射光進(jìn)行照射。 經(jīng)照射的探頭在其頂端形成一個納米級焦點(diǎn),即行程一個極小光源,再通過它對樣品進(jìn)行局部掃描。掃描樣品表面時,通過記錄探頭形成的散射光,實(shí)現(xiàn)光學(xué)成像。 利用原子力顯微鏡的探針針尖當(dāng)散射源,來增強(qiáng)在針尖前端與樣品間的局限電場。藉由外差干涉、探針調(diào)制及光路設(shè)計(jì)等技術(shù),可同時于多波長下記錄地貌、近場光場強(qiáng)度及相位影像。這項(xiàng)技術(shù)能夠用以探測納米材料的光學(xué)特性及因納米結(jié)構(gòu)所產(chǎn)生的電磁場變化,s-snom對于您在納米科技的發(fā)展將能夠作出重大貢獻(xiàn)。
更新時間:2025-06-06