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其他產(chǎn)品及廠家

濕海綿針孔檢漏儀
sj-6濕海綿針孔檢漏儀是一款多檔位的檢漏儀,它應(yīng)用濕海綿測試技術(shù),用于測量導(dǎo)電基體上500微米以下的絕緣涂層的針孔、縫隙、破損等缺陷。
更新時間:2025-06-11
便攜式黑白透射密度計
kodin-h600配備了進(jìn)口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計。該款密度計內(nèi)部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電,在打開觀片區(qū)光源時可供連續(xù)工作4小時以上,在關(guān)閉觀片區(qū)光源時可連續(xù)工作24小時以上。該款密度計是科電公司通過大量試驗,研制的一款高精密儀器。該款密度計具有體積小、重量輕、操作簡單、攜帶方便、測量準(zhǔn)確度高、長期穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。
更新時間:2025-06-11
超聲波探傷儀
6a-ut智聯(lián)型超聲波探傷儀是科電儀器基于安卓系統(tǒng)研發(fā)的智能探傷終端。本儀器具備無線通信功能,可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程交互和云檢測;ips高清彩屏的觸控和實(shí)體按鍵相結(jié)合,讓人機(jī)交互更方便;可提供專業(yè)化的量身定制服務(wù),無線升級更高效;機(jī)殼采用防水、防塵、防摔設(shè)計,可適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場
更新時間:2025-06-11
便攜式測振儀
.kv-3000a測振儀是用于現(xiàn)場機(jī)械振動測量與分析應(yīng)用的便攜式測振儀。它運(yùn)用快速傅里葉變換(fft),將時域信號變換為頻域信號進(jìn)行分析,能快速判定故障原因與位置。
更新時間:2025-06-11
單晶超聲波測厚儀
kodin-3000hmc是一款高精度智能型超聲波測厚儀,它采用的高速數(shù)據(jù)采集技術(shù),具有a掃,b掃,數(shù)值模式和usb通信等功能于一身。增益實(shí)時可調(diào),適用于檢測比較薄的鋼板,滅火器等厚度測量
更新時間:2025-06-11
 回波-回波超聲波測厚儀
超聲波測厚儀hch-30000e/e可有效穿透涂層對基體進(jìn)行測厚,該款儀器是科電公司經(jīng)過半年的努力自主研發(fā)推出的新品。hch-3000e/e采用了單片機(jī)與cpld綜合系統(tǒng)的技術(shù),集發(fā)射-回波模式與回波-回波模式于一身的智能型超聲波測厚儀。它具有輕便且符合人體工程學(xué)的單手操作設(shè)計,為許多需要對疑為帶有涂層的金屬壁變薄的材料所進(jìn)行的快速檢測應(yīng)用,提供了性價比極高的測量解決方案。
更新時間:2025-06-11
LED工業(yè)射線底片觀片燈
kodin g2000c型 led工業(yè)射線底片觀片燈適用于工業(yè)射線照相底片的觀察。
更新時間:2025-06-11
黑白透射密度計
kodin-h600a配備了進(jìn)口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計。該款密度計內(nèi)部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電,在打開觀片區(qū)光源時可供連續(xù)工作4小時以上,在關(guān)閉觀片區(qū)光源時可連續(xù)工作24小時以上。該款密度計是科電公司通過大量試驗,研制的一款高精密儀器。該款密度計具有體積小、重量輕、操作簡單、攜帶方便、測量準(zhǔn)確度高、長期穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。
更新時間:2025-06-11
分體式單探頭涂層測厚儀
涂(鍍)層測厚儀是一款基于安卓系統(tǒng)的智能涂(鍍)層厚度檢測終端。本儀器具備無線通信功能,可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程音頻、視頻數(shù)據(jù)的交互;本儀器可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時專家診斷、遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)檢測等功能;本儀器機(jī)殼防護(hù)采用了防水、防塵、防摔的三防設(shè)計,可以適應(yīng)復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場。
更新時間:2025-06-11
超聲波測厚儀
超聲波測厚儀是科電儀器基于安卓系統(tǒng)研發(fā)的智能測厚終端。本儀器具備無線通信功能;可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程交互和云檢測,儀器內(nèi)置“科信”云平臺可以把測量的數(shù)據(jù)/視頻分享給科信工友,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程實(shí)時協(xié)同作業(yè),機(jī)殼采用防水、防塵、防摔的設(shè)計可以適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場。
更新時間:2025-06-11
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實(shí)驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗室 開放實(shí)驗室 硬件實(shí)驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-06-10
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實(shí)驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗室 開放實(shí)驗室 硬件實(shí)驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-06-10
TM-701 高斯計(特斯拉計)
[應(yīng)用]•測量加工工件上殘留的磁通量。•磁性應(yīng)用產(chǎn)品的磁通量測量。•電機(jī)的磁通量測量。•測量磁性材料的性能。
更新時間:2025-06-10
弱磁探測儀NT-10
量程:200μt,分辨率0.01μt(地球磁場約35μt) 設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)磁場校準(zhǔn)。測量環(huán)境磁場、監(jiān)視空運(yùn)包裹、測量地球矢量磁場、評估磁屏蔽間效果、教學(xué)演示。
更新時間:2025-06-10
信號分析儀
主要技術(shù)指標(biāo)速度和價格的完美結(jié)合測試速度超過其他經(jīng)濟(jì)型頻譜和信號分析儀300%4 ms標(biāo)記峰值搜索速度75 ms測量/模式切換速度11.4 ms遠(yuǎn)程掃描和傳輸速度(gpib)前所未有的經(jīng)濟(jì)型信號分析儀性能0.3 db絕對振幅精度+13 dbm三階截獲(toi) -146 dbm/hz顯示的平均噪聲電平(danl)
更新時間:2025-06-10
金屬導(dǎo)體電阻率測試儀
加工定制:是類型:指針式電阻測量儀表品牌:yaos堯順型號:dx200ghd測量范圍:10-5--105ω(mω)電 源:220±10%測試電壓:2 mv、20 mv、200 mv、2v(v)精度:0.1%重量:8.5(kg)尺 寸:345mm*480mm*145mm規(guī)格:φ30x180
更新時間:2025-06-10
合金鋼化驗儀器,合金鋼成分分析儀
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀: 主要技術(shù)指標(biāo):*測量范圍:碳(c)0.001%~10.000%(可擴(kuò)至99.999%) 硫(s)0.0005%~0.5000%(可擴(kuò)至99.999%) *分析時間:25~60s可調(diào),一般35s*分析誤差:碳優(yōu)于gb/223.69-1997標(biāo)準(zhǔn) 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標(biāo)準(zhǔn) *燃燒功率:小于2.5kva; *工作原理:電弧燃燒,紅外檢測
更新時間:2025-06-10
PTL溫升測試角進(jìn)口測試角
ptl溫升測試角,進(jìn)口測試角,ptl溫度測試角,p06系列測試角
更新時間:2025-06-10
德國PTL插頭力矩試驗儀
更新時間:2025-06-10
德國PTL試驗彎指
更新時間:2025-06-10
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2025-06-10
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-06-10
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-06-10
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2025-06-10
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-06-10
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時間:2025-06-10
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-06-10
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-06-10
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-06-10
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-06-10
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-06-10
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-06-10
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-06-10
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-06-10
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-06-10
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-06-10
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-06-10
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-06-10
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-06-10
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-06-10
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-06-10
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-06-10
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實(shí)驗室 開放實(shí)驗室 儀器租賃
更新時間:2025-06-10
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進(jìn)入該階段。
更新時間:2025-06-10
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-06-10
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-06-10
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-06-10
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-06-10

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計(PH計) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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