其他產品及廠家
kodin 3a-em電磁超聲測厚儀是一款小體積、無需耦合劑、非接觸式測量的儀器，可實現多種金屬或導磁性物質的厚度測量，自帶a掃描（波形顯示）等功能。該產品攜帶方便，測量簡單，是多種功能集一體的電磁超聲測厚儀。
更新時間:2025-06-11
kodin-h600配備了進口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計。該款密度計內部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電，在打開觀片區光源時可供連續工作4小時以上，在關閉觀片區光源時可連續工作24小時以上。該款密度計是科電公司通過大量試驗，研制的一款高精密儀器。該款密度計具有體積小、重量輕、操作簡單、攜帶方便、測量準確度高、長期穩定性好等特點。
更新時間:2025-06-11
6a-ut智聯型超聲波探傷儀是科電儀器基于安卓系統研發的智能探傷終端。本儀器具備無線通信功能，可實現遠程交互和云檢測；ips高清彩屏的觸控和實體按鍵相結合，讓人機交互更方便；可提供專業化的量身定制服務，無線升級更高效；機殼采用防水、防塵、防摔設計，可適應各種復雜的工業現場
更新時間:2025-06-11
.kv-3000a測振儀是用于現場機械振動測量與分析應用的便攜式測振儀。它運用快速傅里葉變換(fft)，將時域信號變換為頻域信號進行分析，能快速判定故障原因與位置。
更新時間:2025-06-11
kodin-3000hmc是一款高精度智能型超聲波測厚儀，它采用的高速數據采集技術，具有a掃，b掃，數值模式和usb通信等功能于一身。增益實時可調，適用于檢測比較薄的鋼板，滅火器等厚度測量
更新時間:2025-06-11
超聲波測厚儀hch-30000e/e可有效穿透涂層對基體進行測厚，該款儀器是科電公司經過半年的努力自主研發推出的新品。hch-3000e/e采用了單片機與cpld綜合系統的技術，集發射-回波模式與回波-回波模式于一身的智能型超聲波測厚儀。它具有輕便且符合人體工程學的單手操作設計，為許多需要對疑為帶有涂層的金屬壁變薄的材料所進行的快速檢測應用，提供了性價比極高的測量解決方案。
更新時間:2025-06-11
kodin-h600a配備了進口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計。該款密度計內部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電，在打開觀片區光源時可供連續工作4小時以上，在關閉觀片區光源時可連續工作24小時以上。該款密度計是科電公司通過大量試驗，研制的一款高精密儀器。該款密度計具有體積小、重量輕、操作簡單、攜帶方便、測量準確度高、長期穩定性好等特點。
更新時間:2025-06-11
涂(鍍)層測厚儀是一款基于安卓系統的智能涂(鍍)層厚度檢測終端。本儀器具備無線通信功能，可以實現遠程音頻、視頻數據的交互;本儀器可以實現實時專家診斷、遠程數據檢測等功能;本儀器機殼防護采用了防水、防塵、防摔的三防設計，可以適應復雜的工業現場。
更新時間:2025-06-11
超聲波測厚儀是科電儀器基于安卓系統研發的智能測厚終端。本儀器具備無線通信功能；可實現遠程交互和云檢測，儀器內置“科信”云平臺可以把測量的數據/視頻分享給科信工友，實現遠程實時協同作業，機殼采用防水、防塵、防摔的設計可以適應各種復雜的工業現場。
更新時間:2025-06-11
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-06-10
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-06-10
量程：200μt,分辨率0.01μt(地球磁場約35μt) 設有標準磁場校準。測量環境磁場、監視空運包裹、測量地球矢量磁場、評估磁屏蔽間效果、教學演示。
更新時間:2025-06-10
主要技術指標速度和價格的完美結合測試速度超過其他經濟型頻譜和信號分析儀300％4 ms標記峰值搜索速度75 ms測量/模式切換速度11.4 ms遠程掃描和傳輸速度（gpib）前所未有的經濟型信號分析儀性能0.3 db絕對振幅精度+13 dbm三階截獲（toi） -146 dbm/hz顯示的平均噪聲電平（danl）
更新時間:2025-06-10
加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電 源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺 寸：345mm*480mm*145mm規格：φ30x180
更新時間:2025-06-10
gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀： 主要技術指標：*測量范圍：碳（c）0.001%~10.000%(可擴至99.999%) 硫（s）0.0005%~0.5000%(可擴至99.999%) *分析時間：25~60s可調，一般35s*分析誤差：碳優于gb/223.69-1997標準 硫優于gb/t223.68-1997標準 *燃燒功率：小于2.5kva； *工作原理：電弧燃燒，紅外檢測
更新時間:2025-06-10
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-06-10
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環路比較大。由于大的地環路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-06-10
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-06-10
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2025-06-10
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-06-10
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數據存取等功能。
更新時間:2025-06-10
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-06-10
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發cmd的方式來實現卡的初始化和數據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-06-10
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-06-10
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發送出去。
更新時間:2025-06-10
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統提交喚醒請求，使處理器系統重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-06-10
pcie 初始化完成后會進入l0狀態。異常狀態見pcie link 異常log。物理層link 不穩定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-06-10
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發明是人類歷史上的大創舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發展則更是狂飆猛進。天的大規模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業內從業者來說遇到的挑戰和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-06-10
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-06-10
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-06-10
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-06-10
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力 發展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-06-10
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發現 ddr3 的信號出現非單調性。
更新時間:2025-06-10
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-06-10
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發現問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-06-10
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-06-10
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-06-10
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數據接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數據傳輸的穩定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-06-10
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