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其他產(chǎn)品及廠家

Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實驗室,DDR測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 驗證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備,這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時間:2025-06-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時,pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-06-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-06-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-06-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號,其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路,另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-06-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號幅度越來越低,對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-06-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求,個是type00h配置請求,另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-06-09
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代,工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗,再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗,但是經(jīng)驗并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-06-09
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-06-09
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時間:2025-06-09
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-06-09
陰極保護(hù)監(jiān)測儀SD-21
陰極保護(hù)監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出,從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω,在某些地形(比如花崗巖)上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時間:2025-06-09
美國Stangenes電流互感器2-1.0W
magnelab電流互感器(ct)提供準(zhǔn)確,無損(非接觸)的單或重復(fù)單或雙的測量 脈沖或連續(xù)波。
更新時間:2025-06-09
美國FCC電流探頭
低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭,這些探頭能感應(yīng)耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號,當(dāng)用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍:10 khz to 200 mhz,轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時間:2025-06-09
美國FCC電流鉗
特別高效的電流鉗(耦合系數(shù)小于7db),產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放,比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率,內(nèi)徑40mm,完全符合iec61000-4-6(gb/t 17626.6)的要求。
更新時間:2025-06-09
英國PEM 低頻羅氏線圈LFR
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差,超寬的頻帶范圍,使其可以測量被測信號的400次諧波(@45/65hz)。 低頻羅氏線圈--lfr對電流幅度的響應(yīng)曲線,有著高的線性度。配備有10:1的電流開關(guān)檔,使其有著更寬的動態(tài)測試范圍.
更新時間:2025-06-09
英國PEM交流電流探頭RCTi系列
rcti是工業(yè)級專用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線圈纖細(xì)、輕巧、柔性。從感應(yīng)線圈輸出實時的與測量電流相對應(yīng)的電壓。
更新時間:2025-06-09
英國PEM直流電流探頭DCflex
dcflex系列電流探頭在功率電子測量中經(jīng)濟(jì)實用,使用簡單,性價比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu):纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán),讓您輕而易舉地與實際測量對象相連接。
更新時間:2025-06-09
耳酷靈聽力篩查儀
力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動聽性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測,在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個聞名于兩步篩查(oae/abr)的新版本聽力篩查儀,具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一,耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時間:2025-06-09
表面粗糙度儀
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀,也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點,可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測,該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀,具有手持式特點,更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計,堅固耐用,抗電磁干擾能力顯著,符合當(dāng)今設(shè)計新趨勢。
更新時間:2025-06-09
防腐層撿漏儀北京廠家
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6(a/b)型電火花檢漏儀檢測厚度:0.05~10mm,輸出電壓:0.6kv~30kv,dj-6(a)檢測厚度:0.03~1.5mm,輸出高壓:600v~8000v 是用于檢測金屬防腐涂層質(zhì)量的專用儀器,使用本儀器可以對不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層,進(jìn)行質(zhì)量檢測。
更新時間:2025-06-09
爐溫測試儀回流焊波峰焊爐溫溫度記錄儀GX62
超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-06-09
超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-06-09
24通道無線溫度驗證儀,爐溫測試儀供應(yīng)
超小體積,內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-06-09
布瑞得無線爐溫測試儀記錄儀GX20
布瑞得無線爐溫測試儀記錄儀gx20
更新時間:2025-06-09
SMT布瑞得爐溫曲線測試儀GX16
smt布瑞得爐溫曲線測試儀gx16
更新時間:2025-06-09
爐溫追蹤儀爐溫測試儀Bathrive_GX12
爐溫追蹤儀爐溫測試儀bathrive_gx12
更新時間:2025-06-09
布瑞得Bathrive GX10無線爐溫測試儀爐溫監(jiān)控儀
布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無線實時傳輸數(shù)據(jù)的場景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時無線傳輸,讓實時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實,無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-06-09
布瑞得Bathrive GX10B隧道爐爐溫測試儀
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無線實時傳輸數(shù)據(jù)的場景,屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品,在滿足低功耗的情況下實現(xiàn)數(shù)據(jù)的實時無線傳輸,讓實時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實,無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-06-09
6通道/9通道/12通道 溫度驗證儀,爐溫測試儀供應(yīng)
lim 系列爐溫測試儀一款革命性的測試儀器。現(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項目,給予使用者帶來更為輕松的工作需求。
更新時間:2025-06-09
SMT爐溫測試儀,美國布瑞得進(jìn)口爐溫測試儀
產(chǎn)品用途:用來對各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測量.長時間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍:smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)
更新時間:2025-06-09
kic爐溫測試儀報價,SMT爐溫測試儀,爐溫測試儀供應(yīng)商,7通道爐溫測試儀
kic explorer爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:kic型號:explorer 7ch測量范圍:內(nèi)部操作溫度0-85(℃)測溫分辨率:0.1℃測溫精度:+/-1.2℃外形尺寸:200.0×60.0×17.0(mm)裝箱數(shù):1
更新時間:2025-06-09
KIC 爐溫測試儀
kic2000爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制:是品牌:美國kic型號:kic2000測量范圍:-50-1050(℃)測溫分辨率:0.1℃外形尺寸:320*86*26(mm)裝箱數(shù):1
更新時間:2025-06-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
更新時間:2025-06-09
MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2025-06-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-06-09
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-06-09
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-06-09
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-06-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-06-09
MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-06-09
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時序:
更新時間:2025-06-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯誤,可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-06-09
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時,eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-06-09
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個data,依次,p3是個data.
更新時間:2025-06-09
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時間:2025-06-09

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熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計(PH計) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
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