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其他產品及廠家

pcie2.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie2.0x8 眼圖測試物理層致性測試在個處理器系統中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。

更新時間:2025-06-10

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Pcie1.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x4 眼圖測試物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰，也即隨著信號幅度越來越低，對整個電路系統的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.

更新時間:2025-06-10

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Pcie1.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x8 眼圖測試物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。

更新時間:2025-06-10

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Pcie1.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie1.0x16 眼圖測試物理層致性測試電子產品發展到當的時代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯網大力發展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。

更新時間:2025-06-10

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Pcie3.0x4 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x4 眼圖測試物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發現 ddr3 的信號出現非單調性。

更新時間:2025-06-10

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Pcie3.0x8 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x8 眼圖測試物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。

更新時間:2025-06-10

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Pcie3.0x16 眼圖測試物理層一致性測試

pcie3.0x16 眼圖測試物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真致。如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發現問題，如果要改善，只能再改板調整，還可能出現改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。

更新時間:2025-06-10

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HA405-DPA-SC-S8/120梅特勒電極（有問題，產品上留有碎渣）

梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣）硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃

更新時間:2025-06-10

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EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試

emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。

更新時間:2025-06-10

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電源紋波測試時鐘測試數據信號測試 Emmc5 上電時序測試

相關產品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試 , emmc5 , 上電時序測試

更新時間:2025-06-10

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數據接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數據傳輸的穩定性，省去總線 tuning 過程。

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試電源紋波測試

相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試

更新時間:2025-06-10

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電源紋波測試時鐘測試數據信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

電源紋波測試時鐘測試數據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試

更新時間:2025-06-10

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控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試

數據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數據傳輸的情況下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

更新時間:2025-06-10

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數據信號測試 Emmc5 上電時序測試

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試

clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。

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數據信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試

數據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數據，其中上升沿傳輸數據的奇數字節（byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數據的偶數字節（byte 2,4,6 ...）。

更新時間:2025-06-10

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I復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發送 cmd19 命令，觸發總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。

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泰克tektronix 以太網一致性測試夾具

泰克tektronix 以太網一致性測試夾具泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

更新時間:2025-06-10

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

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TM-701TM-701 高斯計(特斯拉計)

[應用]•測量加工工件上殘留的磁通量。•磁性應用產品的磁通量測量。•電機的磁通量測量。•測量磁性材料的性能。

更新時間:2025-06-10

該公司產品分類：上海舒耀儀器設備有限公司

NT-10弱磁探測儀NT-10

量程：200μt,分辨率0.01μt(地球磁場約35μt) 設有標準磁場校準。測量環境磁場、監視空運包裹、測量地球矢量磁場、評估磁屏蔽間效果、教學演示。

更新時間:2025-06-10

該公司產品分類：上海舒耀儀器設備有限公司

U7242-26401出租Agilent安捷倫USB3.0測試夾具，硬件測試，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401

更新時間:2025-06-10

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USB2.0出租Tektronix USB2.0測試夾具

出租tektronix usb2.0測試夾具

更新時間:2025-06-10

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KE-2000JUKI飛達校正儀貼片機飛達校正儀氣動飛達校正儀/SMT飛達顯示器

商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機型：juki系列機型

更新時間:2025-06-10

該公司產品分類：深圳市鑫鴻基設備有限公司

解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試分析與解決方法依據ccir編碼表，sav和evav之間的保護數據是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。

更新時間:2025-06-10

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當幀結束或者是個在rxfifo中的完整的幀數據被全部讀出時，eof中斷就產生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當field 1 和field 2交錯的時候產生。f1_int和f2_int會產生

更新時間:2025-06-10

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程 MIPI接口屏閃屏的測試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數據是個從圖像傳感器獲得典型的行數據。該數據寬度定要通過軟件轉化為rgb空間或者是yuv空間的數據格式。pack_dir bit設置為0，表示系統是小端，不是大端系統。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數據內容，p0是個data,依次，p3是個data.

更新時間:2025-06-10

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MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設定為yuv模式，因此，csi獲取的數據也是yuv格式的數據，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應的memory進行顯示輸出。

更新時間:2025-06-10

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質量其實會變差，這個當然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細膩，所以高像素的好處就在這里。

更新時間:2025-06-10

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MIPI眼圖數據 CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調試過程

mipi眼圖數據 clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調試過程mx27提供了個非常業的攝像頭csi接口，可以配置相關的口進行接口匹配。

更新時間:2025-06-10

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MIPI傳輸過程中的信號質量問題

mipi傳輸過程中的信號質量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯盟，旨在把手機內部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標準化，減少兼容性問題并簡化設計。

更新時間:2025-06-10

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試基于示波器的當抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。

更新時間:2025-06-10

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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質量問題 MIPI驅動問題重起問題

mipi接口屏閃屏的分析及解決方法眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質量問題 mipi驅動問題重起問題

更新時間:2025-06-10

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硬件工程師調試MIPI屏經驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅動問題

硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅動問題

更新時間:2025-06-10

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MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調試經驗 MIPI硬件開發 MIPI驅動

mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動

更新時間:2025-06-10

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MIPI調試經驗 MIPI硬件開發 MIPI驅動硬件工程師調試MIPI屏經驗

mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動硬件工程師調試mipi屏經驗

更新時間:2025-06-10

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MIPI調試經驗 MIPI硬件開發 MIPI驅動硬件工程師調試MIPI屏經驗 MIPI 接口的sensor問題

mipi調試經驗 mipi硬件開發 mipi驅動硬件工程師調試mipi屏經驗 mipi 接口的sensor問題

更新時間:2025-06-10

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MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決

mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數據格式，加深在數據線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止狀態進入相應模式需要的時序：

更新時間:2025-06-10

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N9010A信號分析儀

主要技術指標速度和價格的完美結合測試速度超過其他經濟型頻譜和信號分析儀300％4 ms標記峰值搜索速度75 ms測量/模式切換速度11.4 ms遠程掃描和傳輸速度（gpib）前所未有的經濟型信號分析儀性能0.3 db絕對振幅精度+13 dbm三階截獲（toi） -146 dbm/hz顯示的平均噪聲電平（danl）

更新時間:2025-06-10

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