低價VF2257荷蘭TQC濕膜輪,膜厚儀價格
VF2257荷蘭TQC濕膜輪,膜厚儀價格
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XRF-2000金屬鍍層膜厚儀
可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92 。
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統：DELL品牌電腦,17寸液晶顯示器，惠普彩色打印機
綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質GT810F涂層測厚儀 鍍層測厚儀 膜厚儀GT810F
一體磁性金屬涂層測厚儀 鍍層測厚儀 膜厚儀GT810F GT810F是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術參數符合國家標準。 本儀器是磁性便攜式一體磁性金屬涂層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的儀器。Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。 功能：
深圳市速德瑞科技有限公司主營水分儀、涂層測厚儀、光澤度儀、顯微鏡、透光率儀、UV能量計、硬度計、張力計、萬用表等各類儀器儀表歡迎有需要的廠家及經銷商來電聯系聯系電話： QQ：1612436831登錄www.speedre.com 了解更多詳情
PIG455進口德國ERICHSEN儀力信涂PIG455層測厚儀破壞法漆膜膜厚儀
型號：PIG455品牌：ERICHSEN(德國儀力信)品質優勢：同類產品中具有的品質
測量步驟：1、 標記：用標記筆在所測量的涂層表面上作一小的比色標記。2、 劃痕：按刀頭朝下，放大鏡視孔朝前的姿勢抓緊儀器，將刀頭放在標記正前方 不遠的地方，此時兩個導位螺栓和刀頭貼緊涂層表面，輕施壓力讓刀頭保持直線劃過標記，且劃透涂層接觸到底材即可。3、 數格：打開放大鏡視孔旁邊的燈泡開關，將放大鏡聚焦在標記上的劃痕上，調 節底部的調焦旋鈕找到的焦距；旋轉上部的視孔筒和稍微調整儀器的位置使任意一長刻度線和面漆標記劃痕線直線重疊， 然后從左至右數小刻度格數，直到第二層漆層或底材，此為單層或多層的小格總數。4、取數：依不同的型號將小格總數乘上相應的系數即為涂層的各自單層或多層的總厚度。校正：儀器出廠時已經校正。使用一段時間后，如需精確的測量，可使用標準厚度進行定期的驗證。
技術參數:
測量范圍：2-200μm精 度：1%尺 寸：110mm×85mm×25mm
透鏡燈： 3.7V/0.3A/base P13.5 s
用 途：廣泛應用于塑膠、木材、混凝土和其他非金屬材料表面漆層和類似的涂層的測量用于劃格法測定，可作多種涂層的組分分析
電池：2個AA電池
測量范圍：2～200 μm（標配為6號碳化物刀頭）
放大倍數：50倍
刻 度：2 mm（1/100 格）
凈重：0.4kg
配9V電池以及皮套
可選配件：
910924741 特殊 1號 刀頭 用于最大 2000 um 厚的涂層910927441 特殊 4號 刀頭 用于最大 1000 um 厚的涂層910927641 特殊 5號 刀頭 用于最大 500 um 厚的涂層910927541 特殊 6號 刀頭 用于最大 200 um 厚的涂層
測試原理455測量基于標準楔形切割程序：涂層以一個定義的角度被劃破到基材，涂層的厚度（s）根據切割面的三角形投影（b）計算出來，這由一個顯微鏡和切割角（а）決定。依據相同的原理，多層涂層系統的每層涂層厚度也可計算出來，對于符合AS 1580 Meth 408.1標準的附著力測試，在切割操作中涂層卷起的區域寬度與投影b有關。設計和功能PIG 455由1個黑色的氧化鋁部件構成，它包含以下功能元件：—可更換的碳化物刀頭，具有精確的角度切割刀。—一個50倍的測量顯微鏡和一個刻度（2mm分為100格），它也適用于檢查任務。—兩對支腳用于支持測量顯微鏡和導向碳化物刀頭。—電池槽可放兩個AA電池—透鏡燈可更好的照明樣品—雙位開關設置（點亮/）
SQ-GT8102SQ-GT8102一體兩用涂層測厚儀/涂膜厚儀一體兩用涂層測厚儀/涂膜厚儀
| 產品名稱：SQ-GT8102一體兩用涂層測厚儀/涂膜厚儀 |
| 產品編號：906 |
| 產品型號：SQ-GT8102 |
應用雙功能測量技術，能夠自動識別磁性或非磁性底材，然后采用相應的測試方法，適用于各種測量環境。可測量非磁性底材上的非導電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
SQ-GT8102是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術參數符合國家標準。
本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業必備的儀器。Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度，例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。NFe質探針檢測所有絕緣涂層厚度，例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。
（一體化傳感器涂層測厚儀）
機身尺寸：102mm×66mm×24mm
附件：
標準片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（選配：12um、25um）基體2塊（GT810 2塊基體）
電池2塊
清潔布1塊
說明書1份
保修卡1張
華南國家計量中心校準證書
東精精密表面粗糙度儀S130A，臺階儀、膜厚儀東精精密中國一級代理特價
 產 品 說 明 | ||||
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產品資料：國產華唯鍍層厚度檢測儀X射線熒光技術測厚儀涂層膜厚儀
UX-700 鍍層厚度檢測儀 華唯
| 配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
| Ux-700 M | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | 咸陽威思曼(國產) |
| Ux-700 H | AMPTEK Si-PIN X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口) |
| Ux-700 S | AMPTEK SDD X-123(進口) | 上海科頤維（國產） | spellman(進口 |
產品簡介：國產華唯鍍層厚度檢測儀X射線熒光技術測厚儀涂層膜厚儀
本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測系統，眾多條件的選擇，保證測試結果的準確性。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標的點擊操作，選擇樣品的多點測試，特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。
Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設備拍抓測試部位的圖片，和測試數據結果一同出現在測試報告中。
Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯新專利技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
參數規格：國產華唯鍍層厚度檢測儀X射線熒光技術測厚儀涂層膜厚儀
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數：5-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：專用鍍層濾光片
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：USB2.0模式
準直器：Ø0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區 自定義
樣品腔：70*20mm
整機重量：38kg
鍍層測厚方法：
1.磁性涂層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測厚法
可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil）
1um=39.4邁， 1um=0.04mil
國產華唯鍍層厚度檢測儀，X射線熒光技術測厚儀，涂層膜厚儀國產廠家直銷
德國QuaNix4500膜厚儀代理
4500測厚儀，德國QuaNix4500膜厚儀
| QuaNix4200/4500: 1.只需調零、無需校準 2.Fe/NFe兩用探頭 3.一體化設計 4.自動開關機 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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菲希爾XDL系列膜厚儀
菲希爾XDL系列膜厚儀，是發展繼承其前身FISCHERSCOPE X－RAY光譜膜厚儀XDL-B系列，其非破壞式的測量，特別適合金屬鍍層厚度，如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量檢測。其采用了高次數率的比例接收器，可以在沒有標準片的情況下，對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量，另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下，可測量多至24元素，這是其他品牌所不能的。菲希爾XDL系列膜厚儀的長期穩定性是十分高的，這使儀器減少校正所需要的時間及次數，便于管理儀器，并提高生產效率.應用范圍廣泛，包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層（如：裝飾性鉻的鍍層）、在電子及半導體行業中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析。
LZ-990膜厚儀
1.本儀器是KETT品牌最新款雙用一體機,,機型小巧,方便攜帶,性能穩定,功能廣泛的實用型機.有較高的性價比.
2．對磁性和渦流的測定方式有自動識別轉換功能,無需人工調整.有4種語言顯示及儲存功能等.
3.探頭上配有曲面器可測圓型,管型及弧型工件,此曲面器也可輕松拔下,還可測量平面及小面積的工件.
技術參數:
型號 LZ-990J
測定方法 電磁和渦流兩用型
測定對象 磁性金屬上的非磁性涂鍍層和非磁性金屬上的絕緣層
測量范圍 0~3000μm或0~120.0mils
測量精度 ﹤50μm時，±1μm ＞50μm﹤1000μm時，±2% ＞1000μm≦3000μm時，±3%
分辨率 ＜100μm時，0.1μm ＞100μm時,1μm
最小測試面積 ≥5*5mm
數據輸出接口 USB接口或連接打印機（可選）
顯示方式 數顯式LCD
統計功能 測試數/最大值/最小值/平均值/標準偏差,可存儲數據 存儲數據 有成組儲存（電磁式和渦流式各8組）,共計16組
功能設定 各種設定共15種
測量單位 um和mils互換
測量方式 單次測量/連續測量
語言顯示 中文/英文/日文/韓語
工作方式 直接方式/成組方式 統計功能
測試次數/最大值/最小值/平均值/標準偏差
存儲數據 1000個
其它 可連接VZ-330型打印機,可與PC機通訊上下限界數據,
外形 尺寸:82（W）*99.5（D）*32（H）mm
重量:160g
可選配件 工作臺,打印機,打印機連接線,電腦通訊線