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EDX860D貴金屬檢測儀器

Ｘ?zé)晒夤庾V儀EDX860D

型號：EDX860D

產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)及配置

本儀器專門針對貴金屬測試，可測試環(huán)形樣品內(nèi)壁及普通平面測試，具有以下特點(diǎn)：體積小巧，外型莊重大方，手動升降平臺滿足不同大小樣品的測試，樣品固定方便快捷，可方便更換準(zhǔn)直器，準(zhǔn)直器直徑為1.5mm，可測試較小區(qū)域，下照式，大窗口正比計(jì)數(shù)盒計(jì)數(shù)率滿足分析需要，寬闊樣品腔可滿足較大樣品的測試，攝像頭激光精確定位實(shí)現(xiàn)可視化定位，良好的射線屏蔽確保操作人員。

應(yīng)用領(lǐng)域首飾加工廠金銀珠寶首飾店貴金屬冶煉廠質(zhì)量檢驗(yàn)部門分析測試中心典當(dāng)行

XRF檢測法與傳統(tǒng)檢測法比較

檢測法	結(jié)果
試金石法	主觀性強(qiáng)，不科學(xué)，性差
比重法	參照物的純度難以確定
化學(xué)法	成本高，操作復(fù)雜，對樣品有所損害
XRF分析法	快速、無損、科學(xué)、穩(wěn)定

核心技術(shù)

1.大功率光管；2. 超大窗口面積正比計(jì)數(shù)盒； 3. 外型小巧，莊重大方； 4. 寬闊樣品腔，方便操作及測試較大樣品； 5. 手動升降平臺確保測試不同大小環(huán)狀樣品； 6．小準(zhǔn)直器，利于測試樣品小區(qū)域； 7. 攝像頭與激光定位，可視地定位到被測點(diǎn)，測試時(shí)激光點(diǎn)自動關(guān)閉，利于拍攝清晰照片； 8. 良好的射線屏蔽確保操作人員的安全。

儀器技術(shù)指標(biāo)：

分析含量一般為1ppm到99.9％；任意多個可選擇的分析和識別模型；相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型；多變量非線性回歸程序；多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1％；工作穩(wěn)定性為0.1％。電源：交流220V±5V；測量時(shí)間：60-200S 管壓：5-50KV 管流：50-1000μA 溫度適應(yīng)范圍：15℃-30℃

標(biāo)準(zhǔn)配置：

正比計(jì)數(shù)盒；50W X光管；高壓電源 50kV@1mA；攝像頭激光定位裝置；高靈敏度信號檢測電子電路；手動升降平臺；樣品夾；橡皮泥；準(zhǔn)直器直徑為1.5 mm。

最新產(chǎn)品

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EDX860D貴金屬檢測儀器