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光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家
YY 9706.241-2020診斷用照明燈輻擊照度測(cè)試解決方案
無(wú)影燈光色測(cè)試儀是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy 9706.241-2020醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-41部分: 手術(shù)無(wú)影燈和診斷用照明燈的基本安全和基本性能用要求研發(fā)設(shè)計(jì)的。
更新時(shí)間:
2025-06-12
該公司產(chǎn)品分類:
西安信捷智能檢測(cè)科技有限公司
LDF3000供應(yīng)GB7247.1標(biāo)準(zhǔn)全自動(dòng)激光輻射類別檢測(cè)儀
1、設(shè)備的用途:設(shè)備中發(fā)光源的激光輻射類別檢測(cè)、輻射量、伴隨輻射等參數(shù)的檢測(cè);2、依據(jù)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):《gb7247.1-2012》、《iec60825-1:2007》
更新時(shí)間:
2025-06-12
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西安信捷智能檢測(cè)科技有限公司
HPG500西安信捷供應(yīng)光學(xué)測(cè)量?jī)x器-相機(jī)鏡頭焦距測(cè)量裝置
設(shè)備的用途:相機(jī)鏡頭焦距、各種光學(xué)零件、部件及光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)研究及光學(xué)基本量的測(cè)定。
更新時(shí)間:
2025-06-12
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西安信捷智能檢測(cè)科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:
2025-06-12
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無(wú)損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
R1德國(guó)Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀,用于測(cè)量管狀或平面太陽(yáng)能吸收涂層的定向熱發(fā)射度,其基礎(chǔ)是測(cè)量來(lái)自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
K3德Optosol太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德optosol-k3 太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀,k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體(作為熱輻射源)和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來(lái)自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來(lái)的輻射。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Absorber Control K1德國(guó)Optosol 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x
optosol absorber control k1 太陽(yáng)能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x,
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TriSOL AAA美國(guó)OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器
trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)能模擬器,低成本,標(biāo)準(zhǔn)太陽(yáng)模擬器提供高度準(zhǔn)直,均勻的光,幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽(yáng)光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置,這些太陽(yáng)能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TSS-52,TSS-100,TSS-156,TSS-208,TSS-300美國(guó)OAI太陽(yáng)能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽(yáng)能模擬器,這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽(yáng)模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過(guò)濾器復(fù)制太陽(yáng)能模擬太陽(yáng)的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
AE1/RD1美國(guó) D&S 發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美國(guó) d&s 發(fā)射率測(cè)量?jī)x ae1/rd1,是專門針對(duì)測(cè)量物體的輻射率設(shè)計(jì)的,ae1測(cè)量樣品最小直徑為2.25英寸(5.7cm)。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測(cè)頭能使測(cè)量樣品最小直徑為1.0英(2.54cm),可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對(duì)小直徑圓柱形面樣品測(cè)量,可以測(cè)量平行放置的多個(gè)樣品。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
AutoWafe Pro.美國(guó)SONIX 晶圓檢測(cè)設(shè)備
美國(guó)sonix 晶圓檢測(cè)設(shè)備 autowafe pro.為全自動(dòng)晶圓檢測(cè)設(shè)計(jì)的機(jī)型,主要應(yīng)用在bond wafer,mems 內(nèi)部空洞、離層檢測(cè),tsv量測(cè)方面。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TESA 2000美AZ太陽(yáng)能吸收率發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美az 總輻射度/太陽(yáng)能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000,根據(jù)astm e408測(cè)定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽(yáng)吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅(jiān)固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì),便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
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2025-06-12
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KS-16,KS-16F日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個(gè)通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
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2025-06-12
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KS-17B日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個(gè)通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
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2025-06-12
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KS-19F日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-06-12
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KC-24日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計(jì)數(shù)器,可檢測(cè)從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測(cè) 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
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2025-06-12
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KS-41A日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個(gè)通道,出廠默認(rèn)):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
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2025-06-12
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KS-18F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測(cè)到小粒徑 0.05um 的粒子
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42A,KS-42AF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測(cè)試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-06-12
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KS-42B,KS-42BF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法),寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42C日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法),寬廣的測(cè)試范圍,可測(cè)試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-20F日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f,檢測(cè)粒徑為0.02μm的顆粒,從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-01E日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計(jì)數(shù)器,測(cè)試粒徑(5個(gè)通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-03B日本理音RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法),測(cè)試粒徑(5個(gè)通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DSC 300德國(guó)NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
LFA 467 HyperFlash德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測(cè)試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動(dòng)進(jìn)樣器,高的測(cè)量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計(jì)獨(dú)特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測(cè)試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測(cè)量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Model 659OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
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2025-06-12
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FTPadv臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬x
ftpadv 臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬x臺(tái)式薄膜探針?lè)瓷鋬xftpadv,ftpadv是一種具有成本效益的臺(tái)式反射膜厚儀解決方案,它具有非常快速的厚度測(cè)量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,其精度低于0.3nm,膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測(cè)量操作,該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
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2025-06-12
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FTPadv Expert綜合薄膜測(cè)量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測(cè)量軟件,光譜反射測(cè)量軟件ftpadv expert是專門為測(cè)量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計(jì)的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析,這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測(cè)量軟件中,使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
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2025-06-12
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MDPinline光伏測(cè)量?jī)x器
mdpinline 光伏測(cè)量?jī)x器,一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動(dòng)掃描硅晶片而設(shè)計(jì)的,它以每片不到一秒的時(shí)間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率定量測(cè)量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計(jì),mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時(shí)間:
2025-06-12
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MDPinline ingot光伏測(cè)量?jī)x器
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器,多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng),以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:
2025-06-12
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MDPinlinescan在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器,多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面,以1毫米的分辨率,無(wú)接觸、無(wú)破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng),以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
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2025-06-12
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MDPpro德國(guó)Sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)
德國(guó)sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測(cè)量?jī)x器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測(cè)量完全無(wú)觸摸。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:
2025-06-12
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SenSol自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol,可以監(jiān)測(cè)大型玻璃基板上的沉積過(guò)程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開(kāi)始生產(chǎn)的時(shí)間。
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2025-06-12
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SENperc PV德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測(cè)量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測(cè)沉積過(guò)程的穩(wěn)定性。由此,可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
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2025-06-12
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MDPspot德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x器
德國(guó)sentech光伏測(cè)量?jī)x器mdpspot,具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng),用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測(cè)量結(jié)果。
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2025-06-12
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RT Inline薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射,作為內(nèi)部參考測(cè)量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過(guò)程的在線監(jiān)測(cè)。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
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2025-06-12
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
RTMALD實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率,厚度,折射率),在短時(shí)間內(nèi)開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:
2025-06-12
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4200A-SCS美國(guó)泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國(guó)泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ,加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測(cè)量。
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2025-06-12
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CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來(lái)實(shí)現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計(jì), coreafm非常合理的實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
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2025-06-12
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HMS3000,HMS5000韓國(guó)Ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
韓國(guó)ecopia霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性,可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
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2025-06-12
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H5000美國(guó) MMR 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
美國(guó) mmr 霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學(xué)特性,利用范德堡測(cè)量技術(shù)測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場(chǎng)三部分。
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2025-06-12
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KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)
半導(dǎo)體測(cè)試探針臺(tái)kup007,emp100c,emp100b,emp50s
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2025-06-12
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SCALA德國(guó)Mecwins 掃描式激光分析儀
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
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2025-06-12
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HS1000美國(guó)NANOVEA三維表面形貌儀
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,具有測(cè)量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
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2025-06-12
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Y.Cougar SMT, Y.Cheetah德國(guó)YXLON 高分辨率X射線檢測(cè)設(shè)備
德國(guó) yxlon 高分辨率x射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測(cè)器(標(biāo)配)
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Die Pick & Place Systems美國(guó)Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
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DE35-ST美國(guó)Royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
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