激光共聚焦顯微鏡產品及廠家
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
led光源：λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測量時間：2~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 x/y方向：平臺移動范圍：100mmx100mm/200mmx200mm/300mmx300mm(大小可選)，馬達驅動，x/y方向分辨率：0.3μm
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf共聚焦顯微鏡采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf 移動3d共聚焦顯微鏡光學測量系統是針對大型物體檢測（如軋輥和車身）而研發的。本系統以穩定的的μsurf共聚焦技術為基礎，因此它適用于嚴苛的生產環境。全套設備只有5.5kg，因此可以放在移動式運輸箱里并使用任何汽車進行搬運。到達現場后，這套系統只需要幾分鐘的準備時間就能投入使用。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
nanofocus激光共聚焦顯微鏡是一個表面的精密三維測量分析集于一體的。 µsurf explorer適用于計量測試實驗室以及在生產環境中使用由于它的堅固性。用共聚焦顯微鏡 µsurf explorer測量快速、簡單的幾步的功能。靈活和用戶友好的光學測量系統已成功地應用于許多公司和行業的粗糙度測量，根據iso，測量地形，微觀幾何形狀，層厚度或其他參數。 µsurf explorer是在汽車行業，成功部署的醫療技術、微電子技術、造紙和印刷業、鋼鐵業、光學生產。
更新時間:2025-06-06
nanofocus μsurf explorer精密測量、表面分析系統機臺功能齊全，結構緊湊，性價比高，并擁有超高光學分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析能力。
更新時間:2025-06-06
μsurf expert實驗室非接觸性測量系統是一套完全為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內最高的要求。
更新時間:2025-06-06
nanofocus μsprint topographer大面積快速掃描輪廓儀是一個獨立的桌面3d測量系統。機臺上的x.y軸和3d傳感器可以提供必不可少的高精度數據采集的穩定性。μsprint設備包含有控制柜、電子設備和pc，還可以根據客戶的需求進行定制，如自動放置sample的自動機械手。μsprint軟件提供多種掃描和數據分析的功能。
更新時間:2025-06-06
nanofocus μsurf mobile移動式3d共聚焦顯微鏡測量系統，適用于對大型樣品的測量，所以可以在很多惡劣的環境下進行使用，并且不會影響到使用壽命。
更新時間:2025-06-06
產品介紹 μsurf系列3d激光共聚焦顯微鏡采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內精確量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用共聚焦顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
nanofocus μsurf mobile移動式3d測量系統，適用于對大型樣品的測量，所以可以在很多惡劣的環境下進行使用，并且不會影響到使用壽命。當人們還在為測量物體太過于龐大而一籌莫展時，μsurf mobile移動式3d測量系統的橫空出世徹底解決了人們的這個困惑，該機臺不需要移動龐大的被測物體，只需要帶著便捷的μsurf mobile，放在被測物體上，就可以在短時間內得出精確的三維表面形貌。
更新時間:2025-06-06
μscan共聚焦顯微鏡材料表面的三維輪廓測量，粗糙度測量，寬度，高度，角度，半徑、粗糙度等二維、三維數據分析。能直接測量較大面積的樣品，而不用通過拼接。
更新時間:2025-06-06
植入醫療器械檢測系統(激光掃描共聚焦顯微鏡)給牙齒植入、導管血管、生物芯片和關節植入提供納米級的測量數據。μsurf custom系統提供3d表面關鍵數據高解析力和高重復性精度。該專利非破壞性測量技術能夠對透明或高反光表面進行精密測量。所有數據都符合iso25178標準。
更新時間:2025-06-06
nanofocus μsurf solar太陽能電池3d激光共聚焦顯微鏡，可以對太陽能電池片進行自動化測量，廣泛適用于單晶、多晶和薄膜太陽能電池片，一分鐘內可以自動測量12個區域，是質量檢驗和生產控制中的最有效的光學三維表面測量和分析工具。可以進行太陽能電池片柵線的3d形貌表征、高寬比測量，制絨后3d形貌表征（單晶金字塔大小、數量、角度、比表面積，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析，以及減反射層腐蝕表面的測量，薄膜小孔的檢測和自動分析。
更新時間:2025-06-06
μsprint全自動晶元檢測系統是專門為半導體產業的bump檢測而設計。最大能夠自動檢測八寸晶元。bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級精度的量測。一種探針卡計量過程 控制測試是關于控制探針和被測器件（dut）之間的機械接觸。確定機械條件是必不可少的一個良好的機械接觸是一個電氣接觸滿足測試要求的預條件。
更新時間:2025-06-06
德國共聚焦顯微鏡主要功能：該系統通過低能量激光，高性能全自動熒光顯微鏡，掃描共扼聚焦裝置及相關圖像分析軟件的結合，具有較高分辨率，性能穩定。能對各種方法制備的組織細胞中熒光標記的分子和結構進行“光學切片” ，形成組織和細胞中熒光標記結構的總體圖像；同時可以進行三維結構和標記強度的半定量分析；也可以通過顯微鏡對活細胞進行自動定時或定位的激光掃描，記錄和研究離子濃度和自由基膜電位ph值的變化，細胞遷移，細胞周期和細胞生長等細胞生物學現象。能對熒光原位雜交，基因定位和原位實時pcr產物進行分析。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
led光源：λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測量時間：5~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦、可移動，可以檢測大型的物體 x/y方向移動范圍：50mmx50mm，馬達驅動，x/y方向分辨率：0.3μm
更新時間:2025-06-06
μsurf系列用來測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3d表面形貌、2d的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。μsurf 主要對大型樣品進行測試，在以下幾個行業中被眾多企業廣泛使用：
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
led光源：λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測量時間：5~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦、可移動，可以檢測大型的物體 x/y方向移動范圍：50mmx50mm，馬達驅動，x/y方向分辨率：0.3μm
更新時間:2025-06-06
μsurf系列用來測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3d表面形貌、2d的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。μsurf 主要對大型樣品進行測試，在以下幾個行業中被眾多企業廣泛使用：
更新時間:2025-06-06
nanofocus可提供?surf custom以滿足客戶的具體要求。采用了模塊化設計，豐富的硬件與軟件可以由客戶選擇。歸功于模塊化設計，測量系統可滿足不同的測量任務和自動化需求，測量方便、。usurf custom是自動化質量控制的，在研究實驗室和生產環境有廣泛的應用。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
在測試和開發實驗室，一個范圍廣泛的材料，其獨立的表面性質，可以用usurf expert靈活的共聚焦3d顯微鏡測量。隨著自動測量和分析功能，共聚焦顯微鏡也適合于在眾多的測量任務過程中的質量。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
usurf expert是一套為測試以及實驗設備的開發而優化的系統，滿足非接觸性測量行業內zui高的要求。測量系統配備有高精度的傳感器，與位于x,y,z軸向的線性編碼器以及諸多的自動化選項，usurf expert提供zui別的操作舒適感，這一切都歸功于手動的z軸調節以及的人體工學設計。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列用來測量表面物理形貌，進行微納米尺度的三維形貌分析，如3d表面形貌、2d的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。 ? 精密部件：檢測對表面磨損，表面粗糙度，表面微結構有要求的零部件，比如發動機汽缸、刀口等;
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
led光源：λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測量時間：5~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 x/y方向，平臺移動范圍：50mmx50mm，馬達驅動，分辨率：0.3μm
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
led光源：λ= 505 nm, mtbf: 50,000 h 測量時間：5~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 x/y方向，平臺移動范圍：50mmx50mm，馬達驅動，分辨率：0.3μm
更新時間:2025-06-06
μsurf系列產品采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。
更新時間:2025-06-06
該產品搭配有支持多目的表面測量國際標準“iso 25178*1參數對比工具”，通過簡單而準確的樣品測量支持客戶的分析業務，與此同時，憑借不斷創新積累的三維測量性能，實現高精度、高分辨率的表面性狀的測量。
更新時間:2025-06-06
最新產品
- 美國泰伯耐磨試驗機TABER5770 2025/6/8 19:19:22
- TABER5750泰伯爾TABER5770線性磨耗儀 2025/6/8 19:18:11
- TABER5750新款TABER5770線性磨耗儀 2025/6/8 19:17:59
- 美國泰伯爾TABER5770線性磨耗儀 2025/6/8 19:17:47
- 美國TABER5770線性磨耗儀 2025/6/8 19:17:34
- TABER5770線性磨耗儀 2025/6/8 19:17:22
- 南京停車場冷噴劃線，地庫熱熔車位劃線，南京地下停車場劃線施工 2025/6/8 17:24:39
- 沖芯機 2025/6/8 14:50:28
- 線纜低溫卷繞試驗機 2025/6/8 14:46:08
- 塑性計 2025/6/8 14:38:14
- 20KN微機控制電子萬能試驗機現貨供應 2025/6/8 14:12:35
- 30KN電腦控制電子萬能試驗機生產廠家 2025/6/8 13:59:19
- 微機控制萬能材料試驗機 2025/6/8 13:23:04
- 橡膠高低溫抗拉伸壓力試驗機 2025/6/8 13:06:30
- 激光焊接真空手套箱（定制） 2025/6/8 12:48:19
- FFU潔凈手套箱（可選不銹鋼、亞克力材質箱體） 2025/6/8 12:47:18
- MINI型超凈化系統手套箱（780mm×650mm×700mm ） 2025/6/8 12:44:45
- 雙工位凈化系統手套箱（2640mm×9500mm×2100mm ） 2025/6/8 12:43:37
- 1.5工位凈化系統手套箱（2730mm×1000mm×900mm ） 2025/6/8 12:41:51
- 日本得樂TECLOCK針盤式荷重厚度計 2025/6/8 12:13:25
- 日本得樂TECLOCK針盤式荷重厚度計 2025/6/8 12:12:37
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:10:58
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:09:14
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:08:01
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:07:23
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:06:40
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:05:38
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:04:44
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:03:38
- 日本得樂TECLOCK數顯荷重厚度計 2025/6/8 12:01:04