溫度沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品及廠家
艾思荔珠海冷熱沖擊試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家箱體為整體結(jié)構(gòu)形式，制冷系統(tǒng)位于箱體后下部，控制系統(tǒng)位于試驗(yàn)箱的上部。工作室一端的風(fēng)道夾層內(nèi)，分布加熱器、制冷蒸發(fā)器、風(fēng)葉等裝置；試驗(yàn)箱左側(cè)設(shè)有ф50電纜孔，試驗(yàn)箱為單開門（不銹鋼嵌入式門拉手），采用雙層耐高溫抗老化硅橡膠密封，可有效保證試驗(yàn)箱溫度的流失。箱門上設(shè)有觀察窗、防霜裝置及可開關(guān)控制的照明燈。
更新時(shí)間:2025-06-11
福建冷熱沖擊試驗(yàn)箱廠家采用進(jìn)口溫控儀進(jìn)行控溫控濕，可編程序控制儀，可進(jìn)行多種參數(shù)的設(shè)定，溫濕度直接數(shù)字顯示,操作方便。
更新時(shí)間:2025-06-11
三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱報(bào)價(jià)是根據(jù)容積大小，溫度范圍來報(bào)價(jià)的，不同容積大小，溫度范圍價(jià)格也是不一樣的
更新時(shí)間:2025-06-11
小型三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)：控制器:進(jìn)口可編程觸摸式液晶中英文對話式顯示.微電腦集成控制器。精度范圍:設(shè)定精度:溫度±0.1℃、濕度±1％r.h，指示精度:溫度±0.1℃、濕度±1％r.h。傳感器:鉑金電阻pt100ω/mv。加熱系統(tǒng):全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器
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100l三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱電路控制系統(tǒng)采用原裝日制大型液晶lcd（320×240）英文文字與數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)銀幕顯示交談方式。可記憶100組程序（pin）×1000段（step），而各組程序（pin）多可執(zhí)行999回或者無限次返覆執(zhí)行。
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兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，高低溫提籃沖擊箱是模擬gb/t10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件；gb/t11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。
更新時(shí)間:2025-06-11
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，溫循沖擊箱是模擬gb/t10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件；gb/t11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航kong、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。
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冷熱沖擊測試機(jī)，冷熱循環(huán)氣流儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。
更新時(shí)間:2025-06-11
三箱高低溫沖擊箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱測試影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。
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兩箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱，高低溫提籃沖擊箱是模擬gb/t10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件；gb/t11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造，主要為航天、航空、石油、化工、軍事、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，模擬試品在溫度變化環(huán)境條件對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。
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塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)試樣： a）沖頭半徑為1.6±0.1mm； b）鉗口半徑為4.0±0.1mm； c） 沖頭中心線與夾具間隙為3.6±0.1mm； d）沖頭的外側(cè)與夾具間隙為2.0±0.1mmb試樣： a）沖頭半徑為1.6±0.1mm； b）沖頭中心線與夾具間隙為7.87±0.25mm；c） 沖頭的外側(cè)與夾具間隙為6.3
更新時(shí)間:2025-06-11
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本儀器是根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb/t15256硫化橡膠低溫脆性的測定(多試樣法)、gb1682、沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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高低溫循環(huán)試驗(yàn)機(jī)、冷熱沖擊試驗(yàn)箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測試各種材料對高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。
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更新時(shí)間:2025-06-11
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電線電纜低溫脆性測試儀，電纜低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)，橡膠低溫脆性試驗(yàn)機(jī)儀器是根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb5470-2008塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器再原有設(shè)計(jì)中，增加了冷井?dāng)嚢杵鳎谷萜魉闹軠囟雀鶆颍陆禍囟雀欤?jié)約時(shí)間，降低了能耗。
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塑料超低溫脆化沖擊測試儀，塑料低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)，橡膠低溫脆性試驗(yàn)裝置是測定材料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb5470-2008塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。
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低溫塑料脆化沖擊測試儀，塑料超低溫沖擊測試儀，橡膠-80低溫脆性試驗(yàn)裝置設(shè)備采用復(fù)疊式壓縮機(jī)制冷技術(shù)，利用熱平衡原理及循環(huán)攪拌方式，達(dá)到對試樣的自動(dòng)均勻冷卻、恒溫。
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塑料沖擊脆化溫度測定儀，塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)機(jī)，橡膠沖擊脆化溫度測試儀規(guī)格a：試樣的長為20.0±0.25mm，寬為2.5±0.1mm，厚為2.0±0.1mm。b：試樣的長為31.75±6.35mm，寬為6.35±0.51mm，厚為1.91±0.13mm
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塑料沖擊脆化溫度測定儀，塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)機(jī)，橡膠沖擊脆化溫度測試儀規(guī)格a：試樣的長為20.0±0.25mm，寬為2.5±0.1mm，厚為2.0±0.1mm。b：試樣的長為31.75±6.35mm，寬為6.35±0.51mm，厚為1.91±0.13mm
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塑料沖擊脆化溫度測定儀，塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)機(jī)，橡膠沖擊脆化溫度測試儀規(guī)格a：試樣的長為20.0±0.25mm，寬為2.5±0.1mm，厚為2.0±0.1mm。b：試樣的長為31.75±6.35mm，寬為6.35±0.51mm，厚為1.91±0.13mm
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塑料低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)是測定材料在規(guī)定條件下試樣受沖擊出現(xiàn)破壞時(shí)的最高溫度，即為脆性溫度，可以對塑料及其他彈性材料在低溫條件下的使用性能作比較性鑒定。因此無論在科學(xué)研究材料及其制品的質(zhì)量檢驗(yàn)，生產(chǎn)過程的控制等方面均是不可缺少的。本儀器是根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)符合gb5470-2008塑料沖擊脆化溫度試驗(yàn)方法等國家標(biāo)準(zhǔn)的要求。本儀器再原有設(shè)計(jì)中，增加了冷井?dāng)嚢杵鳎谷萜魉闹軠囟雀鶆颍陆禍囟雀欤?jié)約時(shí)間，降低了能耗。
更新時(shí)間:2025-06-11
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更新時(shí)間:2025-06-11
超低溫沖擊箱，-100~100度高低溫沖擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)必備的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
更新時(shí)間:2025-06-11
超快速高低溫沖擊儀（也稱為熱流儀、冷熱循環(huán)沖擊測試機(jī)）適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存flash/emmc、pcb 電路板ic、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測試、sfp 光模塊高低溫測試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行ic 特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體、芯片、傳感器、微電子等域。在短時(shí)間內(nèi)檢測樣品因高低溫冷熱沖擊所引起的化學(xué)變化和物理傷害
更新時(shí)間:2025-06-11
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