X射線能譜儀產品及廠家
think 600x射線膜厚儀半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷采用天瑞儀器產品—信噪比增強器（sne）內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
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更新時間:2025-06-05
phi x-tool 全自動掃描型微區探針能譜儀是一款操作簡單，同時具備高效高能的xps。其秉承phi-xps獨有的掃描聚焦x-ray系統，可通過單色化石英晶體叫x-ray直接聚焦至20μm。和
更新時間:2025-06-05
賽默飛 arl quantx能量色散x射線熒光能譜儀主要特點：具有廣泛的應用如:rohs-weee電子廢棄物中重元素分析,各種合金及貴金屬成分分析,環境污染氣溶膠的測度, 考古文物保護,刑偵痕量分析,
更新時間:2025-06-05
ixrf x射線能譜儀與具有創新性的、基于以太網的數字脈沖處理器相結合后，在探測范圍上更加具有優勢。根據用戶的不同需求來進行配置，ixrf sdd探測器能夠在一個較大的輸入計數率范圍內快速生成x射線圖，并且性能穩定。
更新時間:2025-06-05
法國hds-101g手持式γ射線能譜儀hds-101gn同時也是一種非！奥斆鳌钡膬x器，內置大容量核素庫，通過其特有的算法可自動辨別天然放射性核素（norm）、醫用放射性核素（nmd）、工業放射性核素（ind）和特殊放射性核素（snm），在探測發現放射性威脅的同時可對威脅進行分類。
更新時間:2025-06-03
觸摸屏x熒光測硫儀rc-9000xs型x熒光測硫儀從低含量到高含量w需選擇曲線，放樣60出結果，適用多油種，存儲空間大。可存儲19條曲線
更新時間:2025-06-03
白俄羅斯atomtex at6101能譜儀產品簡介：?手持式多功能γ譜儀，檢查、跟蹤、識別放射性核素，并測定環境當量劑量率?at6101 及at6101b可修正測量環境當量劑量率?可連接外部智能跟蹤器?搜索、跟蹤、識別放射性核素，可識別數十種核素?譜儀智能探頭帶有計算機接口?有效搜索模式?lcd 128x64 背光燈顯示譜圖數據$r
更新時間:2025-05-22
美國賽黙飛世爾thermofisher（美國熱電）能量色散x-射線熒光光譜儀（ed-xrf）技術參數樣品室 樣品類型 固體、粉末、液體、濾渣、鍍層和其它 尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(d)x6.6cm(h)增高室(選購件): 21.5cm或37.1cm單位盤 樣品可大至樣品室大
更新時間:2025-05-19
樣品準備間:溫度:15 c –28 c濕度:相對濕度 20%-75%.空氣潔凈度:無塵, 無腐蝕性氣體, 異氣味. 通風及排風樣品柜2個制樣臺張壓片機用于粉末樣品3.電源及地線:電壓: 200v –230vac 頻率: 50hz 電流:> 20a (實際 >10a)功
更新時間:2025-05-19
靈敏度 ag3d5/2 450w 1.0ev時120mmf:200 kcps60mmf:75kcps成圖范圍 10mm×10mm大自動分析 在10mm×10mm視野內的任意20點
更新時間:2025-05-19
服務科學的導者賽默飛世爾科技近日宣布，全新thermo scientific escalab 250xi光電子能譜儀（xps）是種全集成式表面表征工具，門設計用于滿足從事表面，薄膜和涂層的常規表征工作，乃至沿表面化學研發的工程師們的要求。escalab 250xi是享譽的thermo scienti
更新時間:2025-05-19
●靈敏度 700kcps (ag3d5/2)●x射線源 mgkα 12kv、30ma(mg/al靶選購)●到達真空度 5× 10-7pa以下●分辨率 fwhm ag3d5/2 0.8ev●氣體反應池 1000℃@1bar，400℃@6bar（選購）重視基本性能、緊湊設計的x射線光電子能譜儀。測定操作
更新時間:2025-05-19
axis nova采用大功率x光源和浸入式磁透鏡設計以獲取**的檢測靈敏度，同時采用165mm大平均半徑的雙聚焦半球扇形能量分析器，可以獲得**的xps譜線能量分辨。
更新時間:2025-05-19
重視基本性能、超緊湊設計的esca。測定操作簡單，可自動分析多種樣品，適于質量管理分析與生產管理分析。備有用于快速深度方向分析的離子槍（選配）。靈敏度/分辨率 700kcps(ag3d5/2、1.15ev)x射線源 mgka 12kv、30ma到達真空度 5×10-7pa以下
更新時間:2025-05-19
中文界面導航器：操作簡單易行，只需幾步即可完成分析； 高度智能化，操作者無需經驗即可操作，并得到高質量的分析結果；而且只需通常的1/3 工作時間 ( 從啟動到zui終報告)。收譜過程實時自動識別并標注元素峰位，可任選元素的k，l，m線系標定,采用標準樣品譜庫進行譜峰擬合，元素標識為解？
更新時間:2025-05-19
1.探頭分辨率優于129ev，峰背比優于20000:12.檢測元素范圍be4 - es993.大計數率500,000cps4.大圖象采集分辨率8192x6400象素5.大面分布圖采集分辨率2048x1600象素主要特點 1.探頭指標高，性能好，壽命長。2.全新32位軟硬件系統，工作可靠，效
更新時間:2025-05-19
美國賽默飛世爾thermofisher（熱電）公司micronx 利用x-射線熒光的非接觸式的無損測試技術完美地用于微電子學、光通訊和數據貯存工業的金屬薄膜測量。 可以同時測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成分，測量厚度可以從a(埃)至μ(微米)，他也能測量多至 20個元素的塊狀合金成分。 其光束和探測器的巧妙結合加上高的數字處理技術使得micronx能佳地解決你的應用。結果是asim（應用用儀
更新時間:2025-05-19
inxitu公司是家先的便攜式x射線/ x射線熒光光譜儀器設備。 注于開發所需的技術 ， 使新代的科學儀器 ， 用于文物、藝術品鑒定，材料分析。inxitu公司的“duetto”儀器是款市面上有售的結合xrd/xrf(x射線衍射/x射線熒光功能的儀器，它可用于在原位置對物質進行礦物/相位和元素分析。
更新時間:2025-05-19
d-2001 低本底多道γ能譜儀應用領域：建材、土壤、生物、地質樣品等γ能◆ 符合國家質量技術監督檢驗檢疫總局發布實施的gb6566-2010《建筑材料放射性核素限量》及gb50325-2010《民用建筑工程室內環境污染控制規范》的要求儀器特點
更新時間:2025-02-08
島津／kratos x射線光電子能譜儀axis supra在短短的兩個月的時間內，成功地在全球范圍內銷售了6臺axis supra型xps譜儀。
更新時間:2024-12-31
shimadzu nexera-i mt具有兩個流路，分別適用于hplc系統以及uhplc系統。該系統簡化了用戶在使用hplc分析時所面臨的方法遷移的問題。
更新時間:2024-12-31
島津 nexlock 手緊接頭可以更加輕松的緊固/斷開并且管材可更換。僅在手指緊固的情況下，即可耐受130mpa的壓力，并且可以重復使用100次以上，因此非常適用于uhplc系統。
更新時間:2024-12-31
島津 nexera fv 系統可以減少實驗人員的操作時間。通過使用labsolutionsdb/cs的 multi data report功能，可以自動計算溶出度和溶出曲線，并且輸出結果報告。
更新時間:2024-12-31
新西蘭生物成像有限公司（簡稱"mbi公司"）成立于2007年，擁有的光譜分子成像研發團隊，該公司開發了臺用于商業化的三維x射線光譜掃描儀 — mars scanner。
更新時間:2024-11-13
think 600x射線膜厚儀半導體硅片電制冷系統，摒棄液氮制冷采用天瑞儀器專利產品—信噪比增強器（sne）內置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品
更新時間:2024-09-09
axis supra+ 全自動、成像型多技術x射線光電子能譜儀島津/kratos公司的axis supra+作為高端光電子能譜儀傳承了上一代產品高度智能化的優點，將采譜、成像功能與自動化高度相融合
更新時間:2024-09-04
qcc專利譜分析技術提供更快更精確的核素識別彩色編碼峰提供更多的放射源參數天然鉀穩定連續增益使得它在變化環境中也能獲得精確的結果多功能設計，雙手或單手操作且可以使用多個探測器通過以太網和移動式存儲卡傳輸數據具備核素識別功能，利用天然核素自動完成能量刻度
更新時間:2024-06-21
pgis-2 系列伽馬光譜儀代表了獨特的基于 android 控制裝置的解決方案。光譜測量系統通過無線藍牙連接 android 控制設備。內置 gps 導航定位配 1 pps 信號同步。 gps 數據可通過 pgis-2 和 android 設備記錄。android 設備也接收來自 glonas 衛星的信號。連接外部 gps 接收器（接收器提供 pps信號）。
更新時間:2023-12-27
pgis-2 系列伽馬光譜儀代表了獨特的基于 android 控制裝置的解決方案。光譜測量系統通過無線藍牙連接 android 控制設備。內置 gps 導航定位配 1 pps 信號同步。 gps 數據可通過 pgis-2 和 android 設備記錄。android 設備也接收來自 glonas 衛星的信號。連接外部 gps 接收器（接收器提供 pps信號）。
更新時間:2023-12-27
專為測量pcb板和晶圓而設計的儀器菲希爾（fischer）專為測量pcb和晶圓設計的x射線熒光測厚及材料分析儀 菲希爾（fischer）專為測量pcb和晶圓設計的x射線熒光測厚及材料分析儀
更新時間:2023-11-24
菲希爾鍍層膜厚儀x射線熒光測試儀，可在微小樣品上測量鍍層厚度(包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等)和進行材料分析
更新時間:2023-11-24
菲希爾膜厚儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析配備高分辨率硅漂移探測器 (sdd)，適用于更復雜的多元素分析由下至上的測量方向，可以最簡便地實現樣品定位
更新時間:2023-11-24
高性能x射線熒光測量儀，配有最先進的硅漂移探測器(sdd)，可快速、無損地進行rohs檢測、材料分析和鍍層厚度測量
更新時間:2023-11-24
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