其他產(chǎn)品及廠家
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-06-09
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進(jìn)入該階段。
更新時間:2025-06-09
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-06-09
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-06-09
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-06-09
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-06-09
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-06-09
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-06-09
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時間:2025-06-09
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-06-09
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-06-09
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-06-09
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-06-09
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-06-09
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-06-09
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-06-09
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-06-09
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-06-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-06-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-06-09
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-06-09
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-06-09
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-06-09
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-06-09
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-06-09
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-06-09
陰極保護(hù)監(jiān)測儀sd-21用于測量陰極電位溢出，從而預(yù)防埋地燃?xì)夤艿赖母g。輸入阻抗為100 mω，在某些地形（比如花崗巖）上輸入阻抗可以被精確無誤的測量出來。是世界上首款同時設(shè)備電壓、電流、接地電阻、頻率的設(shè)備。
更新時間:2025-06-09
magnelab電流互感器（ct）提供準(zhǔn)確，無損（非接觸）的單或重復(fù)單或雙的測量 脈沖或連續(xù)波。
更新時間:2025-06-09
低頻脈沖注入型號為 f-120-1, f-120-4, f-120-4a, f-120-6 和 f-120-6a 的注入探頭可用于脈沖注入源及敏感度監(jiān)測探頭，這些探頭能感應(yīng)耦合上升時間為 5ns 及半個脈沖寬度為 100μs 的瞬態(tài)信號，當(dāng)用于監(jiān)測探頭時可用頻率范圍：10 khz to 200 mhz，轉(zhuǎn)移阻抗+20 db k2 從 200 khz 到150 mhz。
更新時間:2025-06-09
特別高效的電流鉗（耦合系數(shù)小于7db），產(chǎn)生10v電平僅需20瓦功放，比傳統(tǒng)電流鉗可節(jié)省4-16倍的放大器功率，內(nèi)徑40mm，完全符合iec61000-4-6（gb/t 17626.6）的要求。
更新時間:2025-06-09
pem 低頻羅氏線圈-lfr系列是理想的電低頻流測試產(chǎn)品。且具有尺寸小巧、低相位誤差，超寬的頻帶范圍，使其可以測量被測信號的400次諧波（@45/65hz）。 低頻羅氏線圈--lfr對電流幅度的響應(yīng)曲線，有著高的線性度。配備有10:1的電流開關(guān)檔，使其有著更寬的動態(tài)測試范圍.
更新時間:2025-06-09
rcti是工業(yè)級專用永久安裝的交流電流探頭。傳感器線圈纖細(xì)、輕巧、柔性。從感應(yīng)線圈輸出實(shí)時的與測量電流相對應(yīng)的電壓。
更新時間:2025-06-09
dcflex系列電流探頭在功率電子測量中經(jīng)濟(jì)實(shí)用，使用簡單，性價比非常高。直流柔性探頭結(jié)構(gòu)：纖細(xì)、柔軟的感應(yīng)套環(huán)，讓您輕而易舉地與實(shí)際測量對象相連接。
更新時間:2025-06-09
力篩查是通過耳聲發(fā)射、自動聽性腦干反應(yīng)和聲阻抗等電生理學(xué)檢測，在受試者自然睡眠或安靜的狀態(tài)下進(jìn)行的客觀、快速和無創(chuàng)的檢查。 這個聞名于兩步篩查（oae/abr）的新版本聽力篩查儀，具有快速、準(zhǔn)確、直觀的特點(diǎn)。作為世界上值得信賴的聽篩產(chǎn)品之一，耳酷靈®為我們贏得了至高的聲譽(yù)。 顯著提高工作效率
更新時間:2025-06-09
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-06-09
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀，也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測，該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀，具有手持式特點(diǎn)，更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計，堅固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當(dāng)今設(shè)計新趨勢。
更新時間:2025-06-09
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6（a/b）型電火花檢漏儀檢測厚度:0.05～10mm，輸出電壓:0.6kv～30kv,dj-6(a)檢測厚度：0.03～1.5mm，輸出高壓：600v～8000v 是用于檢測金屬防腐涂層質(zhì)量的專用儀器，使用本儀器可以對不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層，進(jìn)行質(zhì)量檢測。
更新時間:2025-06-09
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-06-09
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-06-09
超小體積，內(nèi)置32位超強(qiáng)算力高速處理芯片,讓溫度測量得心應(yīng)手,設(shè)計使用壽命超過10年
更新時間:2025-06-09
布瑞得bathrive gx10儀器特別適用于需要無線實(shí)時傳輸數(shù)據(jù)的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時無線傳輸，讓實(shí)時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-06-09
bathrive? gx10b儀器特別適用于需要無線實(shí)時傳輸數(shù)據(jù)的場景，屬于bathrive? 品牌第6代產(chǎn)品，在滿足低功耗的情況下實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的實(shí)時無線傳輸，讓實(shí)時獲得溫度數(shù)據(jù)成為現(xiàn)實(shí)，無線數(shù)據(jù)傳輸距離超過2km(無障礙)
更新時間:2025-06-09
lim 系列爐溫測試儀一款革命性的測試儀器。現(xiàn)在軟件更新為profiling software。同時在原有基礎(chǔ)上增加更多的工藝曲線應(yīng)用項目，給予使用者帶來更為輕松的工作需求。
更新時間:2025-06-09
產(chǎn)品用途：用來對各種加熱或制冷設(shè)備進(jìn)行溫度測量.長時間溫度監(jiān)控.溫度曲線測繪及溫度數(shù)據(jù)分析等適用范圍：smt電子生產(chǎn)制造.冶金.熱處理.烤漆涂裝.釬焊.ir.隧道爐等所有需要進(jìn)行溫度監(jiān)控或測量的行業(yè)
更新時間:2025-06-09
kic explorer爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：kic型號：explorer 7ch測量范圍：內(nèi)部操作溫度0-85（℃）測溫分辨率：0.1℃測溫精度：+/-1.2℃外形尺寸：200.0×60.0×17.0（mm）裝箱數(shù)：1
更新時間:2025-06-09
kic2000爐溫測試儀產(chǎn)品介紹加工定制：是品牌：美國kic型號：kic2000測量范圍：-50-1050（℃）測溫分辨率：0.1℃外形尺寸：320*86*26（mm）裝箱數(shù)：1
更新時間:2025-06-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-06-09
最新產(chǎn)品
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