XD-TP19 AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平
梅特勒METTLER TOLEDO
XD-TP19 AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平
內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)，操作簡便、清晰的液晶顯示，提高型天平體現(xiàn)出的性價比。
采用具有良好耐腐蝕、抗沖擊性能的ABS工程塑料，確保天平結(jié)構(gòu)的輕便、堅固
清晰的顯示屏和鍵盤按鍵設(shè)計，方便用戶使用
內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)，確保稱量結(jié)果的性
內(nèi)置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等設(shè)備
標(biāo)配機架塑料保護罩（In-Use cover），避免散落樣品的腐蝕
具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量、動態(tài)稱量、加減稱量等內(nèi)置應(yīng)用程序
產(chǎn)品名稱列表
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AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平
AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平 參數(shù)：
| 參數(shù) | 值 |
| 量程0-110g | 可讀性0.1mg |
| 量程0-210g | 可讀性0.1mg |
AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平 產(chǎn)品說明：
● 采用具有良好耐腐蝕、抗沖擊性能的ABS工程塑料，確保天平結(jié)構(gòu)的輕便、堅固● 清晰的顯示屏和鍵盤按鍵設(shè)計，方便用戶使用● 內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)，確保稱量結(jié)果的性● 內(nèi)置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等● 標(biāo)配機架塑料保護罩（In-Use cover），避免散落樣品的腐蝕● 具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量、動態(tài)稱量、加減稱量等內(nèi)置應(yīng)用程序
該公司產(chǎn)品分類：
大龍移液器
廣電通訊檢測分析儀器類
廣電通訊
磁性工具
恒溫/加熱/制冷
常用通風(fēng)設(shè)備
通風(fēng)采暖照明
氣動工具
熱學(xué)分析儀器
移液/分液
防靜電設(shè)備
低壓控制
試劑及耗材
靜電/無塵
電氣及自動化
電動工具
測繪無損檢測
量具
工具
力學(xué)檢測儀器
AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平
AL-IC經(jīng)典系列提高型分析天平
內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)，操作簡便、清晰的液晶顯示，提高型天平體現(xiàn)出的性價比。
· 采用具有良好耐腐蝕、抗沖擊性能的ABS工程塑料，確保天平結(jié)構(gòu)的輕便、堅固
· 清晰的顯示屏和鍵盤按鍵設(shè)計，方便用戶使用
· 內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)，確保稱量結(jié)果的性
· 內(nèi)置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等設(shè)備
· 標(biāo)配機架塑料保護罩（In-Use cover），避免散落樣品的腐蝕
· 具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量、動態(tài)稱量、加減稱量等內(nèi)置應(yīng)用程序
| AL104-IC | 0.1mg | 110g |
| AL204DU-IC | 0.1/1mg | 110/220g |
| AL204-IC | 0.1mg | 220g |
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| | AL104-IC 提高型分析天平 | AL204DU-IC 提高型分析天平 | AL204-IC 提高型分析天平 |
| 可讀性 | 0.1mg | 0.1/1mg | 0.1mg |
| 最大稱量值 | 110g | 110/220g | 220g |
| 重復(fù)性（s） | 0.1mg | 0.1/1mg | 0.1mg |
| 線性 | ±0.2mg | ±0.2/1mg | ±0.2mg |
| 外部校準(zhǔn)砝碼（選件） | 100g | 200g | 200g |
| 秤盤尺寸 | Φ90 mm | Φ90 mm | Φ90 mm |
| 防風(fēng)罩高度 | 220 mm | 220 mm | 220 mm |
| 外形尺寸（W×D×H） | 238×335×364 mm | 238×335×364 mm | 238×335×364 mm |
AL經(jīng)典系列提高型分析天平
AL經(jīng)典系列提高型分析天平 內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)，操作簡便、清晰的液晶顯示，提高型天平體現(xiàn)出的性價比。 采用具有良好耐腐蝕、抗沖擊性能的ABS工程塑料，確保天平結(jié)構(gòu)的輕便、堅固 清晰的顯示屏和鍵盤按鍵設(shè)計，方便用戶使用 內(nèi)置砝碼自動校準(zhǔn)，確保稱量結(jié)果的性 內(nèi)置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等設(shè)備 標(biāo)配機架塑料保護罩（In-Use cover），避免散落樣品的腐蝕 具有簡單稱量、百分比稱量、計件稱量、動態(tài)稱量、加減稱量等內(nèi)置應(yīng)用程序
特價銷售AL104-IC提高型分析天平
| 技術(shù)指標(biāo) |
|
| 耗材與選件 |
 | 天平－輔助顯示屏(柱式(背亮)輔助顯示屏) |
| 天平－輔助顯示屏(臺式(背亮)輔助顯示屏) |
| 天平－打印機及配件(記錄結(jié)果打印機適用于LocalCAN) |
AL204DU-IC提高型分析天平
| 技術(shù)指標(biāo) |
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| 耗材與選件 |
 | 天平－輔助顯示屏(柱式(背亮)輔助顯示屏) |
| 天平－輔助顯示屏(臺式(背亮)輔助顯示屏) |
| 天平－打印機及配件(記錄結(jié)果打印機適用于LocalCAN) |
AL204-IC提高型分析天平
| 提高型分析天平 提高型分析天平技術(shù)指標(biāo) |
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AL204DU-IC提高型分析天平
提高型分析天平
| 技術(shù)指標(biāo) |
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特價銷售AL104-IC提高型分析天平
| 提高型分析天平 提高型分析天平技術(shù)指標(biāo) |
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AL204-IC提高型分析天平
| 技術(shù)指標(biāo) |
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| 耗材與選件 |
 | 天平－輔助顯示屏(柱式(背亮)輔助顯示屏) |
| 天平－輔助顯示屏(臺式(背亮)輔助顯示屏) |
| 天平－打印機及配件(記錄結(jié)果打印機適用于LocalCAN) |
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