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M-OG P.I.G.破壞式膜厚計
M-OG P.I.G.破壞式膜厚計(塑鋼外殼) 更多詳細
elcometer-456涂層測厚儀
適用于各種金屬基體的涂層測量，性能，經濟實用極具特色。基本型操作簡單 ，經濟耐用；標準型具數據輸出功 能，可連接計算機進行數據處理盒打印；型功能 更趨完善，度身設計配合不同應用。整體探頭可直接放在涂層 更多詳細
尼克斯涂層測厚儀
德國Automation公司成立于1958年。以來一直于開發、研制、生產涂層測厚儀。早在公司創始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父親即開始研究涂層測厚儀。自發明世界上臺測厚儀以來，尼克斯家族經過幾代人的 更多詳細
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