原子力顯微鏡(atomic force microscopy)是種以物理學原理為基礎,通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描,探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光,后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
alpha300 ra –在一個系統里面集成化學成分分析和納米級別的結構成像alpha300 ra 是市場上首個高度集成的拉曼原子力顯微鏡系統,可以在標準的alpha 300r共聚焦拉曼系統上通過標準模塊升級即可完成拉曼原子力系統聯用,獲得原位的afm和raman圖像的疊加。alpha300 ra 獨特的設計理念使聯用系統既保留300r強大的化學組分分析能力,同時加入微納級別的表面形貌等特性的分析能力,使研究者能對樣品進行深度完善的分析和理解。