X射線衍射儀產品及廠家
→ 國際新型防護鉛皮現國際上超輕、超薄、超柔軟防護材料；與同類進口鉛衣比較可減輕百分之二十五至三十的相對重量； → 防護性能極佳鉛分布十分均勻，正常使用鉛當量不會衰減；提供0.35/0.5mmpb鉛當量； 耐磨、易清洗表面材料大程度保護您的投資;
更新時間:2025-06-06
hb407-d40型智能化β、γ表面污染檢測儀適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測，同時也適用與x、γ輻射劑量率的監測。儀器采用進口蓋革探測器，具有較高的探測效率；
更新時間:2025-06-06
hb407-l805g區域γ輻射監測系統主要是對放射性場所中的x、γ射線進行在線實時監測，由一個監測控制器和多個探測器組成。控制器與探測器之間采用485工業控制總線式進行通信連接也可采用無線網絡通訊連接。實時的反映出每個探測點的劑量率。
更新時間:2025-06-06
日本理學臺式 xrd x 射線衍射儀 miniflex 600，外型小巧方便，具有近于高端分析儀器的測試性能，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域，是一種適用于大專院校學生實驗及研究的 x射線衍射儀,特別適合于野外作業進行材料結構解析
更新時間:2025-06-06
日本rigaku 智能多功能x射線衍射儀 smartlab se, 高自動化、多功能衍射儀, 精于形，智于心,易用、智能的全功能x射線衍射儀
更新時間:2025-06-06
采用進口plc控制線路代替單片機控制線路，使該儀器故障率大大降低，儀器性能更加穩定可靠。進口plc可編程控制器的使用，可大大提高該儀器x射線發生器的使用功率，滿足部分特殊用戶需大功率測試特殊樣品的需要。
更新時間:2025-06-06
射線防護眼鏡(側防護型) → 帶側防（太陽穴），并可按處方配光學度數 → 有近視度數型、遠視型和平光型三種
更新時間:2025-06-06
簡單介紹 可調角度活動拍片架是專為工業上射線機拍片時焦點難對準而設計的，該產品在發生器支架平臺上可以通過手輪搖動，使該平臺實現可調角度，方便了拍片角度難調節問題，提高了工作效率，操作簡單，無需用電源。
更新時間:2025-06-06
靈敏度：4ppmeu(1ppmeu平均鈾含量相當于0.52γ) 測量：×1檔0～9999可用溢出報警擴大讀數范圍
更新時間:2025-06-06
醫用x射線防護屏風(鉛屏風) → 國際新型進口鉛玻璃，分鉛樹脂有機玻璃和高密度超薄特種鉛玻璃兩種
更新時間:2025-06-06
horiba x射線熒光分析儀可快速地測定電子部件中的有害元素的含量。它能對電子電器產品中所含有的有害物質如鉛、汞、鉻、鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過ccd攝像頭可以非常清晰的觀察樣品表面，選取所需要的測試點，操作簡單。
更新時間:2025-06-06
賽默飛世爾 arl equinox 100 x 射線衍射分析儀使用 x 射線衍射進行無損樣品特性分析的儀器。產品適用于相鑒定、定量、晶體結構分析、rietveld 分析、躍遷相鑒定和薄膜分析。
更新時間:2025-06-06
賽默飛世爾arl x´tra companion 臺式x射線衍射分析儀是一款采用θ/θ掃描和bragg-brentano光學幾何設計的臺式x射線衍射儀。采用先進的硬件配置和新的科技手段來確保其準確性、精確性、安全性和易用性。
更新時間:2025-06-06
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。還可通過峰面積計算進行定量分析，通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
島津x射線衍射儀是利用衍射原理,精確測定物質的晶體結構,織構及應力,精確的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。q -6154
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
賽默飛世爾集成 xrd 功能的 thermo scientific arl 9900 xrf 系列是一款高效的多功能 x 射線分析系統，兼具 xrf 和 xrd 技術，用于過程控制。arl 9900 能夠滿足金屬工業極高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的極高分析需求，以及銅業和礦業的極高質量控制需求。 q -6154
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。0755-3150
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。 可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。q -6154
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析. q -6154
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
島津x射線衍射儀xrd－6100采用θ/2θ掃描方式,特有的全聚焦彎晶后單色器，具有世界最高的x射線衍射效率，達到50%以上；獨立的x射線光管控制系統,提高光管使用壽命的同時,也降低了操作人員接觸x射線輻照的幾率，達到本質安全防護等級；該機型整體配置技術成熟,穩定性較高,維護費用最低。 q -6154
更新時間:2025-06-05
島津xrd-6100型x射線衍射儀配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定,windows 2000/xp對應的軟件，實現了多任務功能，操作簡便。性價比出色。另外，豐富的選配件滿足各種應用需求。
更新時間:2025-06-05
島津xrd-6100型易操作、多功能、多用途的x射線衍射儀的新時代：它可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析，可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密ｘ射線結構解析等各種分析。 q -6154
更新時間:2025-06-05
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